您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)

| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

13761038296

products

首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>CV測(cè)試

  • 汞探針測(cè)試 參考價(jià)：面議

    LEI Model2017B，通過(guò)汞探針接觸方法，對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
    型號(hào)： LEI Model... 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對(duì)比
    汞探針測(cè)試
    2025/1/23 12:49:09224

  • 汞CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    汞CV測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試;MCV-530L可測(cè)最大200mm的樣品。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對(duì)比
    CV測(cè)試
    2025/1/23 12:47:03319

  • CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    CV-1500，用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái)，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對(duì)比
    CV測(cè)試
    2025/1/23 12:44:49294
1共1頁(yè),3條記錄 跳轉(zhuǎn)

會(huì)員登錄

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用：

提示

您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
在線留言