回收二手WPA-200 閑置PHL雙折射應力儀器返回列表頁

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產(chǎn)品型號

品牌其他品牌

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更新時間：2024-10-29 16:08:22瀏覽次數(shù)：93次

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保修期限	無	產(chǎn)地類別	進口
產(chǎn)品成色	3成新	使用年限	3-4年
應用領域	電子,汽車,電氣,綜合

保修期限

無

產(chǎn)地類別

進口

產(chǎn)品成色

3成新

使用年限

3-4年

應用領域

電子,汽車,電氣,綜合

回收二手WPA-200 閑置PHL雙折射應力儀器

產(chǎn)品簡介

WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

WPA-200相位差檢測儀特點

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結果的比較。

維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

WPA-200相位差檢測儀主要應用

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

有機材料（球晶、FishEve）

參數(shù)指標

型號	WPA200	WPA-200-L
測量范圍	0~30OOnm
重復性	<1.0nm
像素數(shù)	384×288（≒11萬）pixels
測量波長	523nm,543nm,575nm
尺寸	270×340×560 mm	430×490×910 mm
觀測到的zui大面積	24×32 mm ～ 100×133mm	33×44 mm ～ 240×320mm
重量	13kg	23kg
數(shù)據(jù)接口	GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制）
電壓電流	AC100-240V（50/60Hz）
軟件	WPA-View

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產(chǎn)品簡介

WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

WPA-200相位差檢測儀特點

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結果的比較。

維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

WPA-200相位差檢測儀主要應用

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

有機材料（球晶、FishEve）

參數(shù)指標

型號

WPA200

WPA-200-L

測量范圍

0~30OOnm

重復性

<1.0nm

像素數(shù)

384×288（≒11萬）pixels

測量波長

523nm,543nm,575nm

尺寸

270×340×560 mm

430×490×910 mm

觀測到的zui大面積

24×32 mm ～ 100×133mm

33×44 mm ～ 240×320mm

重量

13kg

23kg

數(shù)據(jù)接口

GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制）

電壓電流

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

WPA-View

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WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）