| 產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
WPA-200系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-3500nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇,透明光學(xué)元器件內(nèi)應(yīng)力分布定量測(cè)量
WPA-200 在
透明光學(xué)元器件內(nèi)應(yīng)力分布定量測(cè)量中展現(xiàn)出
納米級(jí)精度與多維度檢測(cè)能力,其光子晶體偏光陣列與三波長(zhǎng)同步測(cè)量技術(shù)為復(fù)雜光學(xué)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力分析提供了突破性解決方案。以下從技術(shù)原理、檢測(cè)優(yōu)勢(shì)、應(yīng)用場(chǎng)景及行業(yè)價(jià)值四個(gè)維度展開說(shuō)明:透明光學(xué)元器件內(nèi)應(yīng)力分布定量測(cè)量

光子晶體偏光陣列技術(shù)
WPA-200 采用芯片級(jí)光子晶體偏光陣列替代傳統(tǒng)機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件,實(shí)現(xiàn)對(duì)偏振態(tài)的實(shí)時(shí)捕捉。該陣列集成微型偏振元件(尺寸 < 5μm),可同時(shí)解析 0-360° 全方向偏振信息,消除機(jī)械運(yùn)動(dòng)誤差,確保相位差測(cè)量精度 σ<0.1nm。配合 523nm(綠光)、543nm(青光)、575nm(黃橙光)三波長(zhǎng)同步測(cè)量系統(tǒng),通過(guò)多光譜數(shù)據(jù)交叉驗(yàn)證,可穿透 3-5 層鍍膜結(jié)構(gòu)直接測(cè)量基材本體應(yīng)力(如 WPA-200-NIR 型號(hào)),解決了多層光學(xué)元件的檢測(cè)難題。
三維應(yīng)力重構(gòu)算法
設(shè)備搭載的 384×288 像素高靈敏度傳感器(空間分辨率 0.11μm2/ 像素),結(jié)合視野校正算法和曲面補(bǔ)償模型,可對(duì)球面、非球面等復(fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行應(yīng)力分布的三維重構(gòu)。例如,在檢測(cè) AR 眼鏡的衍射波導(dǎo)時(shí),系統(tǒng)能識(shí)別層間 < 5μm 的應(yīng)力梯度,并生成應(yīng)力云圖直觀顯示缺陷位置。其軟件內(nèi)置的動(dòng)態(tài)相位解調(diào)算法可消除環(huán)境振動(dòng)和溫度波動(dòng)(-20℃至 60℃)的干擾,確保測(cè)量重復(fù)性 < 0.1nm。
材料特性自適應(yīng)校準(zhǔn)
針對(duì)玻璃、塑料、晶體等不同材料,WPA-200 支持折射率、熱膨脹系數(shù)等參數(shù)的自定義輸入。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)石英樣品的比對(duì)測(cè)量,可將應(yīng)力測(cè)量誤差控制在 ±0.5MPa 以內(nèi),并符合 GB/T 7962.5-2010《無(wú)色光學(xué)玻璃應(yīng)力雙折射測(cè)試方法》等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
高速在線檢測(cè)能力
單次檢測(cè)僅需 3 秒,支持連續(xù)測(cè)量模式,滿足每小時(shí) 1200 片的量產(chǎn)需求。其 GigE 高速接口可與 MES 系統(tǒng)實(shí)時(shí)對(duì)接,動(dòng)態(tài)調(diào)整注塑機(jī)參數(shù)(如溫度、壓力),使鏡片應(yīng)力均勻性提升 40%,生產(chǎn)周期縮短 15%。例如,某 VR 鏡片生產(chǎn)線引入后,應(yīng)力不良率從 12.3% 降至 7.8%,年節(jié)約成本約 200 萬(wàn)元。
復(fù)雜環(huán)境下的可靠性
設(shè)備通過(guò) 1000 次溫度沖擊循環(huán)測(cè)試(-40℃至 85℃),應(yīng)力測(cè)量精度漂移量≤0.02nm,符合 MIL-STD-810H 軍規(guī)要求。無(wú)旋轉(zhuǎn)光學(xué)部件設(shè)計(jì)使其平均運(yùn)行時(shí)間(MTBF)達(dá) 10,000 小時(shí)以上,維護(hù)成本較傳統(tǒng)設(shè)備降低 60%。在半導(dǎo)體潔凈室環(huán)境中,其防塵設(shè)計(jì)可確保長(zhǎng)期檢測(cè)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的工藝優(yōu)化
軟件內(nèi)置的AI 缺陷分類模型可自動(dòng)識(shí)別注塑紋、氣泡等異常應(yīng)力模式,并關(guān)聯(lián)工藝參數(shù)(如模具溫度、冷卻速率)給出優(yōu)化建議。例如,某企業(yè)通過(guò)分析不同成型溫度下的應(yīng)力分布,成功開發(fā)出減重 30% 但光學(xué)穩(wěn)定性達(dá)標(biāo)的超薄 VR 鏡片。未來(lái)版本將集成機(jī)器學(xué)習(xí)算法,實(shí)現(xiàn)從被動(dòng)檢測(cè)到主動(dòng)預(yù)防的質(zhì)量控制升級(jí)。
VR/AR 鏡片質(zhì)量控制
在 Pancake 鏡片檢測(cè)中,WPA-200 的 575nm 波長(zhǎng)可穿透多層光學(xué)膠,識(shí)別因折射率差異導(dǎo)致的微裂紋風(fēng)險(xiǎn)。某頭部廠商引入后,設(shè)備退貨率降低 37%,并通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)優(yōu)化鍍膜工藝,使鏡片雙折射均勻性提升 40%,有效降低用戶眩暈感。其 NIR 近紅外型號(hào)可穿透 3-5 層鍍膜,直接測(cè)量基材本體應(yīng)力,成為 VR 光學(xué)檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
微納光學(xué)元件研發(fā)
針對(duì)波導(dǎo)光柵、微透鏡陣列等微納結(jié)構(gòu),WPA-200 的變焦鏡頭模塊(視野 3.0×4.0mm)可實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)應(yīng)力分布檢測(cè)。例如,在激光核聚變裝置的石英套管檢測(cè)中,系統(tǒng)能定位因熱應(yīng)力導(dǎo)致的內(nèi)部缺陷,確保在納秒級(jí)激光沖擊下的光學(xué)穩(wěn)定性。
實(shí)驗(yàn)室與醫(yī)療設(shè)備
在神經(jīng)外科 AR 眼鏡的光波導(dǎo)鏡片檢測(cè)中,WPA-200 的 575nm 單色光模式可捕捉雜質(zhì)引起的局部應(yīng)力異常,確保手術(shù) < 0.5mm。其檢測(cè)數(shù)據(jù)還被用于 ITER(國(guó)際熱核聚變實(shí)驗(yàn)堆)項(xiàng)目的石英部件驗(yàn)收,滿足環(huán)境下的可靠性要求。
技術(shù)經(jīng)濟(jì)性對(duì)比
與 X 射線衍射法相比,WPA-200 無(wú)需真空環(huán)境且可實(shí)現(xiàn)全周向檢測(cè),更適合復(fù)雜幾何形狀的光學(xué)元件;與超聲法相比,其空間分辨率提升三個(gè)數(shù)量級(jí),可捕捉微米級(jí)應(yīng)力梯度。某光學(xué)代工廠引入后,設(shè)備 5 年殘值率仍超 70%,二手市場(chǎng)流通活躍,印證其長(zhǎng)期價(jià)值。
標(biāo)準(zhǔn)化與本地化服務(wù)
深圳市田野儀器有限公司作為中國(guó)區(qū)總代理,提供24 小時(shí)內(nèi)響應(yīng)的上門維修與校準(zhǔn)服務(wù),并可根據(jù)客戶需求定制檢測(cè)模板(如設(shè)置 VR 鏡片關(guān)鍵視場(chǎng)區(qū)域的應(yīng)力閾值自動(dòng)報(bào)警)。其檢測(cè)報(bào)告符合 SEMI、ISO 等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),可直接用于歐美市場(chǎng)準(zhǔn)入認(rèn)證。
未來(lái)技術(shù)演進(jìn)方向
下一代 WPA-200 將集成光譜共焦技術(shù),實(shí)現(xiàn)應(yīng)力分布與厚度測(cè)量的同步進(jìn)行,為可彎曲石英光纖的研發(fā)提供多物理場(chǎng)檢測(cè)支撐。通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)算法,設(shè)備可預(yù)測(cè)光學(xué)元件在長(zhǎng)期使用中的應(yīng)力松弛行為,從被動(dòng)檢測(cè)轉(zhuǎn)向主動(dòng)壽命管理。
案例 1:VR 鏡片良率提升
某企業(yè)通過(guò) WPA-200 檢測(cè)發(fā)現(xiàn),Pancake 鏡片邊緣因注塑冷卻不均導(dǎo)致應(yīng)力集中(相位差 > 50nm)。通過(guò)調(diào)整模具溫度曲線,使邊緣應(yīng)力降至 20nm 以內(nèi),良率從 82% 提升至 91%,年增產(chǎn)值超 2000 萬(wàn)元。
案例 2:微納波導(dǎo)研發(fā)
在 AR 眼鏡波導(dǎo)光柵的研發(fā)中,WPA-200 檢測(cè)到層間應(yīng)力梯度 > 10MPa/mm,導(dǎo)致光損率達(dá) 8%。通過(guò)優(yōu)化蒸鍍工藝參數(shù),應(yīng)力梯度降至 3MPa/mm 以下,光損率降低至 3.5%,顯著改善戶外顯示效果。
WPA-200 憑借其納米級(jí)精度、高速檢測(cè)與智能化分析能力,已成為透明光學(xué)元器件內(nèi)應(yīng)力定量測(cè)量。在深圳光明科學(xué)城等新材料研發(fā)高地,其正推動(dòng)光學(xué)檢測(cè)從定性判斷轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的工藝優(yōu)化,助力中國(guó)光學(xué)制造領(lǐng)域突破技術(shù)壟斷。隨著 AI 與光學(xué)檢測(cè)技術(shù)的深度融合,WPA-200 將進(jìn)一步賦能半導(dǎo)體、新能源等戰(zhàn)略產(chǎn)業(yè),成為智能制造的核心基礎(chǔ)設(shè)施。
透明光學(xué)元器件內(nèi)應(yīng)力分布定量測(cè)量