婷婷亚洲综合一区二区,国产亚洲3p无码一区二区,久久永久免费专区人妻精品

儒亞科技（北京）有限公司

立即詢價

您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)

CPS納米粒度分析儀差示離心沉降原理帶來的優(yōu)勢

閱讀：874 發(fā)布時間：2021-6-3

　　CPS納米粒度分析儀，有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區(qū)分提供新的解決方案

　　這種原理有以下幾點優(yōu)勢：

　　分辨率高：

　　同激光散射和顆粒計數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候，該方法測定的結(jié)果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。

　　靈敏度高：

　　低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。

　　重復(fù)性高：

　　樣品結(jié)果在95%的典型置信度下，連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于+/-1% 或更好。

　　快速、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換:

　　可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于數(shù)模轉(zhuǎn)換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模轉(zhuǎn)換可以實現(xiàn)在每秒31次取樣時保持20位以上的精度，幾百萬分之一的誤差。