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CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢

閱讀:608      發(fā)布時間:2021-6-9
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  CPS納米粒度分析儀分辨率很高,它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點,使得整個儀器能夠達(dá)到*的分辨率,優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.
 
  同激光散射和顆粒計數(shù)法比較,該方法有非常高的分辨率,能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒,污染顆?;蛘咄鈦眍w粒。半峰寬為峰值粒度 1%,也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個粒度峰,該儀器都可以有效地檢測并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高,得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響,測量終得到的是真實、可靠的顆粒分布。
 
  *的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到,少可以分析小于毫克乃至微克級的樣品。
 
  高度可重復(fù)性的樣品結(jié)果; 連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于±1% 或更好。
 
  連續(xù)的離心操作;在分析連續(xù)樣品的時候,不需要儀器停止來清洗,需要極少的人工。
 
  和傳統(tǒng)沉降法比較,更快的分析時間。速度的優(yōu)勢是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測器響應(yīng)。采用多階速度,分析速度可以小于通常情況下的1/20。

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