是德keysight Bead probe焊珠探頭技術

是德*響應客戶的需求，針對當今流/行的印刷電路板（PCB）提供更出色的測試點接入能力。Keysight Medalist 焊珠探頭技術能夠指/定將測試目標或焊珠探頭直接放置到銅信號走線上的方式，幾乎能在電路板版圖的任何位置提供測試接入點，具有卓/越的測試范圍。

這種方法業(yè)經驗證并經過*測試，將為電子制造商提供卓/越的在線測試接入能力，使他們能夠測試當今密度日益增加的 PCB 和高速電路設計。Bead probe的實施無需更改現(xiàn)有的表面安裝技術（SMT）工藝，也無需增加成本！

Bead probe的優(yōu)勢：

• 為在線測試（ICT）原來無法接入的高密度電路板或高速電路板提供卓/越的測試接入
• 焊珠可以直接放置在高速走線上，同時維持出色的信號完整性
• Bead probe不需要為適應傳統(tǒng)的測試焊點而耗費大量資金和時間進行信號路徑重新布線。設計部門與測試部門之間可顯著縮短協(xié)商時間，意味著產品能夠更快投放市場。
• 支持更多探測選件，這些選件能夠簡化并降低 ICT 測試夾具的成本。
• Bead probe可以使用當前的 SMT 焊接掩膜和焊膏模板工藝實施，不會增加額外的成本或處理步驟。

制造商如何評價焊珠探頭技術

“超過 150 萬的數(shù)據(jù)點使我們相信，Bead probe不僅在大批量生產環(huán)境中是可行的，而且它的成功實現(xiàn)既不會增加成本，也不會影響到設計的靈活性。”――深入測試 Keysight Medalist 焊珠探頭技術后，一家重要電子產品 OEM 給出的評價

是德的優(yōu)勢

Bead probe可直接置放到任何 PCB 上。但只有 Keysight Medalist 3070 和 i5000 在線測試儀可幫助您充分利用這些新增探測位置。例如，是德夾具軟件會自動優(yōu)化通過哪些焊珠進行探測，以把昂貴的 39 mil 和 50 mil 探針數(shù)量減到小，從而降低夾具成本。此外，是德在線測試儀還能通過優(yōu)化探測位置把電路板的撓曲減到小，這種撓曲有可能在 ICT 期間損壞電路板組件。只有是德公司能為您提供Bead probe就緒的綜合夾具解決方案。

入門指南

為促進Bead probe在行業(yè)的推廣，其他的非是德 ICT 廠商也能獲得設備許可證。只要這些非是德廠商購買設備許可證，他們的系統(tǒng)就能獲得“是德許可”，其客戶就能獲得客戶許可證。那時客戶也就能在其 PCB 上合法使用焊珠探頭，并在非是德 ICT 系統(tǒng)中測試這些 PCB。