澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
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