ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī)基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
ZEM Ultra場發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM Ultra場發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 ZEM Ultra臺(tái)式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動(dòng)操作等特點(diǎn)，還具備出色的抗震...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗(yàn)樣品原位...
原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位...
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab 參考價(jià)：面議
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實(shí)現(xiàn)從微米到納米微加工的成像加工系統(tǒng)。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM) 參考價(jià)：面議
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能...
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電...
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， ...
蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
員.png)
3