電子元件檢測幫手：Zygo激光干涉光學(xué)輪廓儀

電子元件如芯片封裝、連接器的表面質(zhì)量與尺寸精度，直接影響電子設(shè)備的性能與穩(wěn)定性，Zygo 3D 光學(xué)輪廓儀 NewView™ 9000 能精準(zhǔn)檢測電子元件關(guān)鍵部位，成為電子元件生產(chǎn)質(zhì)檢的實(shí)用幫手。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)上，NewView™ 9000 配備電子元件專用夾具，可固定芯片、連接器、電容等不同類型的電子元件，夾具設(shè)計(jì)貼合元件外形，避免檢測時損傷元件引腳或封裝結(jié)構(gòu)。設(shè)備的光學(xué)鏡頭可快速切換倍率，既能觀察電子元件的整體外觀，也能聚焦到引腳間距、封裝膠體高度等關(guān)鍵細(xì)節(jié)。操作軟件中設(shè)有 “電子元件檢測模板"，包含引腳共面度、封裝厚度等常見檢測項(xiàng)目，一鍵調(diào)用即可啟動檢測。

性能方面，該設(shè)備的非接觸式檢測方式，不會對電子元件的精密結(jié)構(gòu)造成物理損傷，適合檢測脆弱的芯片封裝與細(xì)小引腳。在檢測引腳共面度時，能快速測量多個引腳的高度差，精度滿足電子元件的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。檢測數(shù)據(jù)可自動生成報表，標(biāo)注不合格的元件與缺陷位置，方便質(zhì)檢人員快速篩選。

用材上，NewView™ 9000 的夾具采用防靜電材料，避免靜電損壞電子元件，尤其適合芯片等敏感元件的檢測。設(shè)備內(nèi)部的光學(xué)部件經(jīng)過防塵處理，減少電子元件生產(chǎn)環(huán)境中粉塵對檢測精度的影響。

以下是 Zygo 3D 光學(xué)輪廓儀 NewView™ 9000 的部分參數(shù)表：

用途上，它可用于芯片封裝的引腳共面度檢測、連接器的插針高度測量、電容電阻的封裝尺寸驗(yàn)證等。在電子元件研發(fā)中，能幫助工程師觀察新結(jié)構(gòu)元件的成型效果，優(yōu)化設(shè)計(jì)方案；在生產(chǎn)車間，可作為出廠質(zhì)檢設(shè)備，保障電子元件質(zhì)量