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薄膜測厚儀
參考價：面議
薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
型號： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：合肥市
對比
測厚儀膜厚儀薄膜測厚儀
2024/6/4 13:45:373239
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