澳譜特科技參加第十二屆中國顆粒大會（CCPT12）

       2023年4月21-24日，第十二屆中國顆粒大會在?？隰斈芟栴D酒店成功舉辦，本次會議是顆粒學(xué)領(lǐng)域綜合性學(xué)術(shù)年會，吸引了來自全國高校、科研院所、企事業(yè)單位的2000余名科技工作者參加，80余家單位參展。大會以“創(chuàng)新助力雙碳，綠色賦能發(fā)展"為主題，邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾冰等院士作特邀報(bào)告，圍繞顆粒學(xué)相關(guān)領(lǐng)域的科研進(jìn)展、產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢等展開交流。

       澳譜特科技專家劉偉教授應(yīng)邀作了關(guān)于“動態(tài)光散射納米顆粒粒度測量方法進(jìn)展"的主題報(bào)告，從“自動過濾受灰塵干擾的散射光、相關(guān)函數(shù)的截取方式、背散射法測量高濃度樣品粒度和退偏振動態(tài)光散射法棒狀顆粒測量"等四方面分享了最新研究成果。

       2023年，澳譜特科技相繼推出Zetatronix 939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀，以及MorphoVIEW MIP380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀。Zetatronix 939SZ從多個(gè)不同的散射角進(jìn)行光強(qiáng)自相關(guān)函數(shù)的測量，可以獲得更多的粒度信息，并將其結(jié)合到一個(gè)數(shù)據(jù)分析中反演顆粒粒度分布，進(jìn)而提高粒度分布的準(zhǔn)確性。MorphoVIEW MIP380 靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu)，不僅能獲取粒度參數(shù)，還能提供粒形參數(shù)，全維度展示顆粒特性。
       第十二屆顆粒大會在?？趫A滿落幕，但未來之路任重而道遠(yuǎn)，澳譜特科技將會持續(xù)不斷加大研發(fā)投入，提升技術(shù)水平，為中國顆粒學(xué)事業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。
       2024嘉善年會再相聚！