MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。顆粒粒度粒形是反應(yīng)顆粒特性的基本指標(biāo)，它決定了顆粒的物理、化學(xué)、力學(xué)等特性。為了控制產(chǎn)品...

Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小，其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)...

MorphoVIEWS380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu)，通過自動樣品臺帶動顆粒在平面內(nèi)移動，使用高分辨率相機(jī)逐張進(jìn)行拍照，在圖像采集過程中顆粒保持靜止...

MorphoVIEW系列動態(tài)圖像粒度粒形分析儀，在運(yùn)動過程中捕捉顆粒的圖像，具有采樣量大，無取向誤差等特點(diǎn)。利用高分辨率工業(yè)相機(jī)，顆粒圖像更清晰，測量結(jié)果更準(zhǔn)確...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...

9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...