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方塊電阻測試儀

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 XX-2
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 經銷商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2022-04-27 10:30:51瀏覽次數(shù):544

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產品簡介

產地類別 國產 價格區(qū)間 面議
應用領域 電子,航天,汽車,電氣 自動化度 手動
四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。

詳細介紹

XX-2型方塊電阻測試儀是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。

 
◆ 特點
 
1
 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩(wěn)定
2
 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰
3
 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示
4
 體積≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g
5
 可配臺式探頭和特制之手握式探頭,對應可采用臺式和手握式操作,使用簡易
6
 帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED)
7
 單電源開關,推拉式探頭-主機接插件,操作極其簡便。
 
◆ 技術指標:
 
測量范圍
基本量程:方塊電阻1.00-199.99(Ω/口)
擴展量程:方塊電阻10.0-1999.9(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規(guī)格
 探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
 測量過程誤差:≤±0.8%
電源
 9V疊層電池1節(jié)

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