EDX8000T PLUS 參考價：面議
Simply The Best微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設計，可分析不規(guī)則樣品厚度高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速，無損，高精度測量高分辨率...
鍍層測厚光譜儀 參考價：面議
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針...
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