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目錄:光焱科技股份有限公司>>傳感器檢測(cè)>>圖像傳感器/顯示屏指紋>> SG-A光焱科技圖像傳感器測(cè)試儀

光焱科技圖像傳感器測(cè)試儀
  • 光焱科技圖像傳感器測(cè)試儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Enlitech
  • 型號(hào) SG-A
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 高雄市
屬性

應(yīng)用領(lǐng)域:電子/電池

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更新時(shí)間:2025-03-27 11:52:14瀏覽次數(shù):4051評(píng)價(jià)

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池 全光譜的波長(zhǎng)范圍 300-1100nm或350-1000nm(PTC)
動(dòng)態(tài)范圍 80dB、100dB或140dB 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
價(jià)格區(qū)間 面議 測(cè)量模式 咨詢光焱科技專家
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀是商用CMOS圖像傳感器測(cè)試儀,可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測(cè)設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗(yàn)程序符合EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn)。因此,可用于進(jìn)行晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè)、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證。SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的高度準(zhǔn)直光束(<1°)可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無(wú)法解決的新制造工藝的檢測(cè)困難。

產(chǎn)品介紹


  SG-A 可提供最完整的CMOS圖像傳感器參數(shù)量測(cè)分析,例如全光譜量子效率(QE)、整體系統(tǒng)增益(K)、時(shí)間暗噪聲、信噪比、絕對(duì)靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、暗訊號(hào)非均勻性 (DSNU)、光響應(yīng)非均勻性 (PRNU)、線性誤差和主光線角度 (CRA)。


  待測(cè)元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測(cè)器模塊。 檢測(cè)程序符合EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn)。


  因此,SG-A CMOS影像傳感器測(cè)試儀可用于進(jìn)行晶圓級(jí)光學(xué)檢查、工藝參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證。 SG-A CMOS 影像傳感器測(cè)試儀的高準(zhǔn)直光束 (< 1°) 可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無(wú)法解決的新制造工藝的檢測(cè)難題。


  這些制成包括小像素(< 1微米)、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設(shè)計(jì)等。



特色


● 無(wú)損光學(xué)檢測(cè)

  ● 高準(zhǔn)直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°(不同型號(hào))。

  ● 高均勻光斑:≥ 99%。

  ● 光源不穩(wěn)定度≤1%。

  ● 高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試能力:80dB~140dB(不同型號(hào))。

  ● 可測(cè)試 CMOS 圖像傳感器參數(shù):量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流/噪聲、訊噪比、飽和容量、線性誤差 (LE)、暗電流非均勻性 (DCNU)、光響應(yīng)非均勻性 (PRNU)、主光線角度 (CRA)。

  ● 全光譜波長(zhǎng)范圍:300nm-1100nm 或 350nm~1000nm(依型號(hào)而定)。

  ● 波長(zhǎng)可擴(kuò)展至1700nm或更長(zhǎng)。

  ● 待測(cè)元件封裝:CIS 模組、PCB 板級(jí)、CIS 相機(jī),含/不含微透鏡。

  ● SG-A 與待測(cè)元件之間可透過(guò)「直接通訊」或「握手通訊」進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。

  ● 客制化測(cè)試夾具和平臺(tái)(手動(dòng)或自動(dòng),最多 6 軸)。

  ● 功能強(qiáng)大的分析軟件ARGUS®。

  ● 應(yīng)用:指紋辨識(shí)(CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT陣列感測(cè)器)、CIS微透鏡設(shè)計(jì)、晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè)、CIS DSP芯片算法開發(fā)、硅基TFT感測(cè)器面板、飛行時(shí)間相機(jī)感測(cè)器、近接感測(cè)器(量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等)、d-ToF 感測(cè)器、i-ToF 感測(cè)器、多光譜感測(cè)器、環(huán)境光感測(cè)器(ALS)、屏幕下指紋識(shí)別 (FoD) 感測(cè)器。



系統(tǒng)設(shè)計(jì)


光焱科技圖像傳感器測(cè)試儀

規(guī)格



SG-A CMOS 圖像傳感器測(cè)試儀功能強(qiáng)大,因此相關(guān)規(guī)格和配件非常齊全

以下為主要功能規(guī)格:

  ● 全光譜波長(zhǎng)范圍:300-1100nm 或 350-1000nm (PTC)
  ● 波長(zhǎng)范圍可擴(kuò)展至 1700nm 或更高。
  ● 單一波長(zhǎng)光源:470nm、530nm、630nm、940nm (±5nm) 或定制
  ● 動(dòng)態(tài)范圍:80dB、100dB 或 140dB
  ● 測(cè)試夾具:DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm(高)[Basic type] 或定制
  ● 平臺(tái):非、手動(dòng) 3 軸或 6 軸(手動(dòng) + 自動(dòng))平臺(tái)(可定制)



應(yīng)用

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀可用于:


 ● 指紋識(shí)別:(CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT-陣列傳感器)

 ● CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級(jí)光學(xué)檢查

 ● CIS DSP芯片的算法開發(fā)

 ● Si TFT傳感器面板

 ● 飛行時(shí)間相機(jī)傳感器

 ● 近距離傳感器:(量子效率、靈敏度、線性度、SNR等)

 ● d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

 ● 多光譜傳感器

 ● 環(huán)境光傳感器:(ALS)

 ● 指紋顯示(FoD)傳感器









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