目錄:光焱科技股份有限公司>>EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測(cè)試>> QE-RX光焱科技光伏電池效率損失分析儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-07-22 15:26:22瀏覽次數(shù)：4951評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
| Lamp?Wavelength?Range | 300nm~2000nm | Measuring?Wavelength?Range | 300nm~1200nm |
| Jsc?Un-Repeatability | <0.1% | Jsc?Uncertainty | <0.15% |
| Dark?box | 800mmx800mmx920mm |
提升精度的實(shí)驗(yàn)室利器 _ AM1.5G太陽(yáng)光模擬器搭光伏太陽(yáng)能電池效率-損失分析解決方案搭載 SPOT-V 光斑觀測(cè)器
光斑觀測(cè)器 為何能助您科研精進(jìn)？
·清晰觀察： 在暗室或光線有限的實(shí)驗(yàn)環(huán)境中，也能清晰觀測(cè)光斑，確保樣品處于最佳受光區(qū)域。
·簡(jiǎn)便易用： 即插即用，無(wú)需繁瑣設(shè)置，適用于各種光譜系統(tǒng)，讓您輕松掌握光斑位置。
·多功能應(yīng)用： 無(wú)論是微小樣品還是復(fù)雜的光譜實(shí)驗(yàn)，都能提供可靠的觀測(cè)支持，幫助您進(jìn)行精準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和數(shù)據(jù)分析。
·提升效率： 光斑觀測(cè)器能有效避免光斑偏移或樣品偏移問(wèn)題，保障每次測(cè)量的準(zhǔn)確性，提升實(shí)驗(yàn)效率，降低誤差。
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 的特色如下：
*高度準(zhǔn)確且低不確定性
QE-RX 的校準(zhǔn)是NIST 可追溯的，這使得 QE-RX 的測(cè)試數(shù)據(jù)的不確定性低于任何其他 EQE 測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)，QE-RX 是由Enlitech 開(kāi)發(fā)的，Enlitech 擁有 10 年的ISO / IEC 17025 認(rèn)證的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。這使得 QE-RX 對(duì) Si 太陽(yáng)能電池的測(cè)試結(jié)果高度準(zhǔn)確。依靠 QE-RX，它將為您提供可靠的結(jié)果。
*結(jié)構(gòu)緊湊但功能多樣
QE-RX 將所有光學(xué)和機(jī)械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主體內(nèi)，其中包括電信號(hào)采集鎖相放大器。不限于其緊湊的尺寸，QE-RX 仍然提供各種測(cè)試數(shù)據(jù)，包括太陽(yáng)能電池的 EQE、光譜響應(yīng)、反射率和 IQE。緊湊而多功能是 QE-RX 的優(yōu)勢(shì)。
*功率損耗分析
QE-RX 結(jié)合 SQ-JVFL 軟件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和帶隙計(jì)算。這些參數(shù)是生產(chǎn)產(chǎn)量控制和效率建議的關(guān)鍵因素，這使得 QE-RX 成為光伏行業(yè)的最佳合作伙伴。
．用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接觸、雙面和 TOP-Con 硅太陽(yáng)能電池
．提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-電子轉(zhuǎn)換效率）、SR（光譜響應(yīng)）、IQE（內(nèi)部量子效率）和反射率方面的數(shù)據(jù)。
．結(jié)構(gòu)緊湊且重復(fù)性高超過(guò) 99.5%。
．波長(zhǎng)范圍：300~1200 nm
．Jsc損失分析和報(bào)告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．職業(yè)損失分析和報(bào)告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．FF損失分析和報(bào)告（使用SQ-JVFLA軟件）。
．提供的EQE不確定度評(píng)估報(bào)告和經(jīng)ISO/IEC 17025認(rèn)證的質(zhì)量控制，可用于期刊論文投稿。
．多樣化和定制化的樣品測(cè)試裝置。
QE-RX主機(jī)功能 | ? 測(cè)量波長(zhǎng)范圍：300-1200nm （可擴(kuò)展） ? 各波長(zhǎng)測(cè)量重復(fù)性：300-390nm 平均不重復(fù)性≦ 0.3%，400-1000 nm 平均不重復(fù)性 ≦ 0.15%。1000-1200nm波長(zhǎng)平均不重復(fù)性 ≦ 0.25% ? 短路電流密度不重復(fù)性 ≦ 0.1% ? 準(zhǔn)確性<0.1% ? 量測(cè)10次計(jì)算平均不重復(fù)性 = 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差/平均值* 100% ? 測(cè)量時(shí)間:300-1200nm，掃描間隔10nm，測(cè)量不超過(guò)3分鐘 ? 測(cè)量暗箱：80cm測(cè)量遮罩暗室 ? 適用環(huán)境: 溫度15~35度，濕度20%~65% ? 具備短路電流、開(kāi)路電壓、填充因素三大損耗分析 |
軟件功能 | ? 絕對(duì)光強(qiáng)校正 ? 光譜響應(yīng)測(cè)量 ? 外部量子效率測(cè)量（EQE） ? 帶寬能隙分析（Bandgap） ? 自動(dòng)、即時(shí)短路電流密度Jsc計(jì)算 ? 單波長(zhǎng)短路電流自動(dòng)計(jì)算 ? 獨(dú)立控制操作整體硬件系統(tǒng)及資料讀取 ? 光譜失配因素計(jì)算（MMF） ? 信號(hào)監(jiān)控功能 ? 任意AM光譜短路電流密度計(jì)算功能 ? 資料保存格式txt | |
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于：
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太陽(yáng)能電池效率-損失分析
*IEC-60904-8 光譜響應(yīng)測(cè)量
*IEC-60904-7 失配系數(shù)計(jì)算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太陽(yáng)能電池加工質(zhì)量控制
*矽太陽(yáng)能電池帶隙測(cè)定
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