鼎陽200MHz高分辨率示波器SDS1204X HD 返回列表頁

鼎陽200MHz高分辨率示波器SDS1204X HD

鼎陽200MHz高分辨率示波器SDS1204X HD

概述

12-bit高分辨率采樣：更好呈現(xiàn)波形細(xì)節(jié)

SDS1000X HD采用了12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)4096量化等級(jí)，是傳統(tǒng)8-bit示波器信號(hào)分辨能力的16倍，再結(jié)合優(yōu)異的本底噪聲，能夠使捕獲到的波形更加“干凈清晰"地呈現(xiàn)在屏幕上，有利于觀察以及精準(zhǔn)測量。

分段采集：高效捕獲異常

分段采集將波形儲(chǔ)存空間分成多段，每段空間存儲(chǔ)一個(gè)觸發(fā)幀，最大可以采集80 000個(gè)觸發(fā)事件，在Sequence 周期內(nèi)可最大限度地降低觸發(fā)事件之間的間隔時(shí)間（小至2.5 μs），提高了對(duì)異常事件的捕獲概率。Sequence模式下采集的所有波形段可以一次性全部映射到屏幕上，也可以通過History 進(jìn)行單幀回放。

數(shù)學(xué)運(yùn)算：4路并行提高效率

4條獨(dú)立的Math波形，支持20多種常用數(shù)學(xué)運(yùn)算，除基本數(shù)學(xué)運(yùn)算外，示波器還提供導(dǎo)數(shù)、積分、對(duì)數(shù)等代數(shù)運(yùn)算，此外還支持公式編輯器自定義運(yùn)算表達(dá)式，用于實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的嵌套運(yùn)算，數(shù)學(xué)運(yùn)算波形和測量結(jié)果可用作其他數(shù)學(xué)運(yùn)算的參數(shù)。

FFT：時(shí)域與頻域的結(jié)合

通過硬件加速的FFT 功能，最大運(yùn)算點(diǎn)數(shù)為2M點(diǎn)，在提供*的頻譜分辨率的同時(shí)，仍然能夠保持較高的頻譜刷新率。支持多種窗函數(shù)，支持普通、平均、最大值保持等模式，支持自動(dòng)標(biāo)記峰值點(diǎn)并形成列表。

豐富的觸發(fā)功能：精準(zhǔn)定位觸發(fā)事件

SDS1000X HD 系列提供多種觸發(fā)模式，可用于精確隔離相關(guān)信號(hào)事件,除邊沿、斜率、脈寬和欠幅等簡單的觸發(fā)外，還支持復(fù)雜的觸發(fā)條件，例如碼型觸發(fā)和視頻觸發(fā)，此外，還標(biāo)配豐富的總線協(xié)議觸發(fā)，包含I2C、SPI、UART、CAN、LIN，能夠幫助使用者在繁雜的采樣信息中快速鎖定感興趣事件。

模板測試：高速驗(yàn)證產(chǎn)品質(zhì)量

基于硬件的模板測試功能，最高每秒可執(zhí)行70 000次測試。根據(jù)用戶自定義的垂直和水平容限生成模板，通過比較被測信號(hào)是否觸碰模板判斷測試是否失敗，不僅可以預(yù)先設(shè)定測試失敗時(shí)采集停止以及蜂鳴器告警，還可以將失敗幀自動(dòng)截圖或存入歷史幀，非常適用于長期無人值守時(shí)監(jiān)測異常信號(hào)。
電源分析：助力電源設(shè)計(jì)與評(píng)估

電源分析功能能夠幫助用戶快捷測量和分析電力電子領(lǐng)域中的多個(gè)項(xiàng)目，如電源質(zhì)量, 諧波, 浪涌電流, 開關(guān)損耗, 輸出紋波, 瞬變響應(yīng)等，選擇電源分析功能后，可根據(jù)連接指南正確連接電壓和電流探頭，此外，和波特圖軟件相配合還可以對(duì)電源環(huán)路響應(yīng)進(jìn)行測量分析，在一定情況下可取代昂貴的網(wǎng)絡(luò)分析儀，可廣泛應(yīng)用在開關(guān)功率器件參數(shù)測量、電源控制回路調(diào)制特征分析和線路功率諧波分析等領(lǐng)域。

數(shù)字邏輯信號(hào)分析：實(shí)現(xiàn)混合信號(hào)采集與分析

通過16路邏輯分析儀探頭可為儀器增加16路數(shù)字通道，同時(shí)不影響其他測試功能，可以快速解決模數(shù)混合信號(hào)設(shè)計(jì)與分析等問題。

25MHz USB任意波形發(fā)生器：節(jié)約空間節(jié)省預(yù)算

USB任意波形發(fā)生器提供了 25MHz 的預(yù)定義波形輸出，包括正弦波、方波、三角波、脈沖波、噪聲、直流以及45種內(nèi)建任意波，用戶也可通過EasyWave上位機(jī)軟件編輯任意波形，適合注重工作臺(tái)空間和預(yù)算的教學(xué)實(shí)驗(yàn)室或設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)室使用。