20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀 返回列表頁

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀

通過其硅探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于大多數(shù)光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。

光束尺寸20µm至~6mm

功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件

PH00457

NS2s-Si/9/5-STD

狹縫掃描式光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，9mm孔徑，5µm狹縫

PH00465

NS2s-Si/9/5-PRO

狹縫掃描式光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，9mm孔徑，5µm狹縫

產(chǎn)品規(guī)格

產(chǎn)品名稱：NanoScan 2s Si/9/5

傳感器類型：Silicon Photodetector

光譜范圍：190 to 1100 nm

狹縫尺寸：5 µm

孔徑尺寸：9 mm

光束尺寸：20 µm to 6 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率范圍：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀

使用NanoScan的狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) :

取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) : 

多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。