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| 窗口類(lèi)型 | 無(wú)窗 | 分辨率 | 126eVeV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | NA | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 探測(cè)器類(lèi) | 硅漂移探測(cè)器（SDD） | 探測(cè)器面積 | 60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm |
| 儀器種類(lèi) | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,綜合 |
| 最大計(jì)數(shù)率 | 大于4,000,000 cpscps | 元素檢測(cè)范圍 | B (5) to Am (95) |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
FlatQUAD布魯克能譜儀是一款平插式探測(cè)器.置于掃描電鏡極靴和樣品之間。四塊硅漂移品體成環(huán)形排列于中心孔四周，入射電子束從中心孔穿過(guò)。適用于不同的工作距離并具有優(yōu)異的性能。
OUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash' FlatQUAD探測(cè)器的EDS微區(qū)分析系統(tǒng)。這一*設(shè)計(jì)的環(huán)形四通道SDD探測(cè)器工作時(shí)位于掃描電鏡極靴和樣品之間，能夠獲得EDS分析較大的固體角。結(jié)合ESPRIT分析軟件QUANTAXFlatQUAD系統(tǒng)對(duì)于傳統(tǒng)斜插式能譜很難分析的樣品，可提供優(yōu)的元素面分布效果。
使用新的探測(cè)器技術(shù)
QUANTAX FlarQUAD系統(tǒng)的核心一-XFlash FlarCUAD探測(cè)探測(cè)福配置了不同厚度的特殊聚合物窗口，可吸收不同器?；谛路f的探測(cè)器設(shè)計(jì)理念.安裝于掃描電鏡樣晶加速 電壓下的背散射電子。倉(cāng)的水平接口，使探測(cè)器置于電鏡極靴和樣品之間。而傳統(tǒng)的探測(cè)器則采用電鏡的傾斜接口。XFlash" FlatOUAD探測(cè)器能夠與不同類(lèi)型的掃描電鏡兼容。
FlatQUAD布魯克能譜儀探測(cè)器的探頭組件中，四個(gè)獨(dú)立的硅漂移芯片成環(huán)形排列于中心孔四周，入射電子束從該中心孔穿過(guò)。探測(cè)器材料經(jīng)過(guò)特殊選擇.避免對(duì)電子束產(chǎn)生影響.保證高質(zhì)量的電鏡圖像。
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