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電解測厚儀COULOSCOPE CMS2菲希爾代理*
COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地,庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。部署CSM2 STEP版本,用于單層標準的STEP測試測量,并檢測潛在的差異,例如在鎳多層質量控制中。
COULOSCOPE CMS 測量原理:
測量原理 這個系列儀器根據 DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面 積保持不變,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系。
測量印刷線路板上剩余純錫的厚度
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度:
d:
鍍層厚度 [µm]
eÄ:
電化學當量 [g/As]
I:
電解電流 [A] γ: 電解效率
t: 電解時間 [s] A: 電解面積 [cm2] ρ: 電解鍍層材料密度 [g/cm3]
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制, 用一 個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電 解液*利用。 根據測量區(qū)域的大小,各種直徑的墊圈 可供選擇。
電解測厚儀COULOSCOPE CMS2菲希爾代理*
Couloscope CMS2特征:
應用:
金屬和非金屬基材上的任何金屬涂層
單層和多層涂層厚度測量
特別適用于通過STEP Test測量鎳多層
適用于0.05μm至40μm的涂層厚度
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