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中級(jí)會(huì)員 | 第5年

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高低溫箱的應(yīng)用

時(shí)間:2024/6/11閱讀:476
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高低溫測(cè)試旨在評(píng)估產(chǎn)品在ji端溫度條件(包括高溫和低溫)下儲(chǔ)存、運(yùn)輸及使用的適應(yīng)性和可靠性。該測(cè)試的嚴(yán)苛程度由所設(shè)定的高溫或低溫的具體溫度值以及產(chǎn)品暴露在這些ji端溫度下的持續(xù)時(shí)間所決定。由于大多數(shù)產(chǎn)品都需要在特定的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行存儲(chǔ)或工作運(yùn)行,因此,這種測(cè)試顯得尤為重要。特別是在那些溫度波動(dòng)較大,時(shí)而高溫時(shí)而低溫的環(huán)境中,產(chǎn)品的適應(yīng)性和穩(wěn)定性更是需要通過(guò)高低溫測(cè)試來(lái)驗(yàn)證。


高低溫循環(huán)測(cè)試

一般來(lái)講的話都是天的倍數(shù),常見(jiàn)的就是72H,96H。要求不一樣,時(shí)間不一樣,有更少或是更高的。


高低溫環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫

IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱

IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):低溫





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