TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià):面議
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200薄膜...SGC-10薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
SGC-10薄膜測(cè)厚儀適用于介質(zhì),半導(dǎo)體,薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。該薄膜測(cè)厚儀,是我公司與美國(guó)new-span公司合作研制的,采用new-spa...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)