目錄:安徽澤攸科技有限公司>>掃描電鏡原位樣品臺>>納米力學(xué)臺>> NI-100SEM納米力測量系統(tǒng)
SEM納米力測量系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品特色
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 加熱,光學(xué)等多種模塊可選
▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學(xué)測量
▲ 閉環(huán)納米尺度微動臺控制,位移更加精確
▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選
▲ 超高穩(wěn)定性,輕松獲得高質(zhì)量原位視頻
技術(shù)參數(shù)
功能:壓痕,壓縮,拉伸
載荷量程:100mN
力傳感分辨率:10uN
響應(yīng)時間:50ms
微調(diào)臺X/Y;模式:閉環(huán)控制 行程:100(±20)um 精度:20nm
粗調(diào)臺X/Y/Z;模式:開環(huán)控制 行程:XY軸±10mm、Z軸行程10mm 最小步長:≤1nm
標(biāo)準(zhǔn)納米力臺尺寸:130*65*55mm
裸臺重量:約300g(壓痕)
樣品尺寸:≤30*30mm
選配模塊:加熱(最高400℃)、加電
應(yīng)用案例
納米力臺微球壓碎過程
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)