PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊,可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案,加...氣體樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡氣體樣品桿,基于MEMS芯片封裝及微區(qū)加熱技術(shù),桿身集成氣路通道,實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)原位氣氛加熱實(shí)驗(yàn)。冷凍樣品臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺(tái)基于液氮低溫制冷技術(shù),溫度范圍:-160℃至80℃。液體樣品臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺(tái),基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù),實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。原位加熱臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺(tái)基于MEMS加熱芯片技術(shù),溫度范圍:室溫至1200攝氏度。納米探針臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了三維空間上的精確定位,具有小尺寸大行程、高定位精度、操作簡(jiǎn)單、能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn),使用于在SEM真空腔體內(nèi)...納米力學(xué)臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。加熱拉伸臺(tái) 參考價(jià):面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。多樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿,可一次裝載3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TEM樣品,提高測(cè)試效率,減少頻繁插拔樣品桿對(duì)測(cè)角臺(tái)的磨損。液體樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡液體樣品桿,基于MEMS芯片封裝及電學(xué)芯片技術(shù),實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)原位液體-電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。氣氛加熱樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡氣氛加熱樣品桿,基于MEMS芯片封裝及微區(qū)加熱技術(shù),桿身集成氣路通道,實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)原位氣氛加熱實(shí)驗(yàn)。三維重構(gòu)樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿,基于樣品端超薄設(shè)計(jì),滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測(cè)試需求。冷凍樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡冷凍樣品桿,基于桿末端液氮杜瓦制冷技術(shù),幫助研究人員開展冷凍電鏡實(shí)驗(yàn)。原位多場(chǎng)耦合樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿,結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù),通過(guò)更換不同類型的原位芯片及探針,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過(guò)更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。原位光學(xué)樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),樣品桿內(nèi)集成光纖,桿末端可外接光源或光譜儀,實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測(cè)量或光譜學(xué)表征研究...原位力學(xué)樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),集成力測(cè)量功能,對(duì)樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過(guò)程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線,支持力-電同時(shí)測(cè)量。原位電學(xué)測(cè)量樣品桿 參考價(jià):面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測(cè)量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組(20世紀(jì)90年代),圍繞原位電學(xué)測(cè)量樣品桿,澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展,已推出電...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)