應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子 |
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
作為一種快速、準(zhǔn)無損的分析技術(shù)——XRF熒光光譜儀得到了廣泛的應(yīng)用。為了了解當(dāng)前XRF的使用范圍和新領(lǐng)域的增長潛力,我們請一些專家對于XRF的重要的應(yīng)用領(lǐng)域、以及面臨的挑戰(zhàn)、與其他技術(shù)的競爭優(yōu)勢等問題進(jìn)行了評論。
XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長,“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF,"陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如,使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探,以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。“由于電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品,以至于不適于現(xiàn)場分析,但XRF*可以,特別是小型化的儀器。"
芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見,“便攜性和現(xiàn)場易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢,"并稱XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用,而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性?!芭c質(zhì)譜(MS)方法相比,XRF有很多優(yōu)勢,其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品,"她說到。“需要重點(diǎn)記住的一件事是,火星上有XRF,而沒有ICP-MS。"
華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen,從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出,XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素?!皞鹘y(tǒng)XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級水平,"但是,她指出,對于ppb級的微量元素分析, ICP-OES是主力,只要樣品量不受限制、消解又很簡單。對于有限的樣本,微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇?!皩τ趐pt水平的檢測,需要ICP-MS,"她補(bǔ)充道。
幾個(gè)專家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用,“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高,波散XRF是必要的,"京都大學(xué)教授Jun Kawai說,“一臺(tái)有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測量40個(gè)元素。"
XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制,CTL集團(tuán)的*科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評估替代材料和配方的能力,以及不同制造過程的副產(chǎn)品,"他說?!案玫乇碚鬟@些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用,會(huì)加快帶來一個(gè)綠色的未來。"
XRF熒光光譜儀產(chǎn)品介紹:
性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg