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菲希爾X射線測(cè)厚儀XDLM 237，XDLM 237 X射線熒光鍍層測(cè)厚材料分析儀采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部...

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XULM240菲希爾鍍層測(cè)厚儀，菲希爾，依靠菲希爾Fischer公司的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測(cè)量樣品的鍍層厚度。F...

Fischer測(cè)厚儀X射線，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚...

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菲希爾X鍍層測(cè)厚儀，使用XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無(wú)論...