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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地無錫市
更新時(shí)間:2024-07-11 17:04:18瀏覽次數(shù):219次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER X-RAY XAN215
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥,綜合 |
FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾
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德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性,這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用:
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量
多鍍層厚度測(cè)量
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性,這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用:
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量
多鍍層厚度測(cè)量
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