Fischer X射線鍍層測厚儀 返回列表頁

Fischer X射線鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線光譜儀，主要用于無損厚度測量和成分析。

菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了

Fischerscope X-RAY XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

本款儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

在連接器和電氣元件上的測量

電鍍液的溶液成分分析

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL 240 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。