菲希爾、X射線測厚儀FISCHER XDL230 返回列表頁

菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL 240 型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL系列儀器可選配圓形或長方形準(zhǔn)直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用**保護的DCM測量距離補償法。