菲希爾X射線測厚儀Fischer X-RAY 返回列表頁

菲希爾X射線測厚儀Fischer X-RAY

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

•  分析小于 的超薄鍍層

•  測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

•  測定復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)

•  全自動測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域

•  分析焊錫中鉛含量

•  配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

菲希爾X射線測厚儀參數(shù)：

1、通用規(guī)格

設(shè)計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

形式設(shè)計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達驅(qū)動的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。

測量方向：從上到下。

2、X 射線源

X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔：10、30、50KV

孔徑（準(zhǔn)直器） ：4個可切換準(zhǔn)直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規(guī)格。

基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）

測量點：取決于測量距離及準(zhǔn)直器大?。辉谝曨l窗口中顯示實際的測量點大小。*小的測量點大小約為0.15mm直徑。

測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補償測量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求，校正是必要的。