Fischerscope X鍍層測(cè)厚儀 返回列表頁(yè)

Fischerscope X鍍層測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY XAN220產(chǎn)品特點(diǎn)：

? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無(wú)損分析珠寶、錢(qián)幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)；

? 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

? 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析

? 由下至上的測(cè)量方向，可以*簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY XAN220應(yīng)用實(shí)例

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有出色的精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低，節(jié)省了時(shí)間和精力?，F(xiàn)代硅漂移探測(cè)器實(shí)現(xiàn)了高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Fischerscope X-RAY Xan220是一款用戶(hù)友好的臺(tái)式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測(cè)器組件位于儀器的下部，因此測(cè)量方向從樣品下方開(kāi)始，樣品由透明窗口支撐。