菲希爾X射線鍍層測厚儀Fischer 返回列表頁

菲希爾X射線鍍層測厚儀Fischer

FISCHERSCOPE X-RAY XDL X射線熒光膜厚儀 鍍層厚度測量儀 德國FISCHER菲希爾

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPEGOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

菲希爾X射線測厚儀XDL / XDLM / XDAL功能強(qiáng)大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

菲希爾X射線測厚儀XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中*微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。