Fischer菲希爾X熒光射線測厚儀 返回列表頁

Fischer菲希爾X熒光射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500特點

• 通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

• 重量1.9 kg

• 一次電池充電可持續(xù)運行6個小時

• 測量點：3毫米?

• 高分辨率硅漂移檢測器

• 用于戶外的IP54等級

• 用作臺式設(shè)備的可選測量箱；

• 使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500

應(yīng)用

• 測試大型樣件，裝配測量箱后也可以測試小樣件

• 一次測試同時測定鍍層的厚度和成分（例如，F(xiàn)e上的ZnNi合金）

• 未知合金的無標(biāo)準(zhǔn)片測量

• 大型鍍層零件（例如機器部件和外殼）的測量

• 電鍍層的測試

• 電鍍液金屬含量的分析