Fischer測厚儀 熒光射線儀器 返回列表頁

Fischer測厚儀 熒光射線儀器

菲希爾全新 FISCHERSCOPE X-RAY XDV系列不僅更換了全新的設計，性能也顯著提升50%。

得益于儀器標配的 DPP+ 數(shù)字脈沖處理器，您可以大大縮短測量時間和提高測量重復性。利用這雙重優(yōu)勢：您可以在測量時間和測量重復性之間找到合適您的應用和要求的最佳方案。儀器配備了功能強大且界面友好的軟件，廣泛適用于各種應用和行業(yè)。使用菲希爾的X射線儀器進行更快速、更精準的測量：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY

菲希爾X射線測厚儀X-RAY XDV-SDD

全能選手

菲希爾X射線測厚儀XDV-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級范圍內(nèi)的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強大的硅漂移探測器（SDD），這臺多功能儀器可以提供出色的測量結(jié)果。