菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN250 返回列表頁

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN250

菲希爾X射線測厚儀XAN 250 和 XAN 252 特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。

典型的應用領域

·在電子和半導體工業(yè)中，測量功能性鍍層，鍍層厚度*薄可低至數(shù)納米

·出于保護消費者為目的的痕量分析，如玩具中的鉛含量等

·在珠寶、手表業(yè)及金屬冶煉業(yè)中，以*高的精度分析合金成分

·高科院校的學術研究以及工業(yè)領域的技術研發(fā)

為了使每次測量都能在良好的條件下進行，儀器配備了可電動切換的多種準直器及基本濾片。先進的硅漂移接收器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。對于高精度要求的測量任務，則可隨時進行必要的校準。