菲希爾代理X熒光射線測厚儀 返回列表頁

菲希爾代理X熒光射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。無錫駿展儀器供應提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。無錫駿展儀器供應比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結構，無錫駿展儀器供應也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求.

           配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。菲希爾X射線測厚儀FISCHER它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側面有開口(C形槽).由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm  .  Z軸可電動調整的儀器，測量距離還可以在0- 80 mm的范圍內自由選擇，這樣就可以測量腔體內部或表面不平整的物體(DCM方法)。