目錄:南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司>>封裝及檢測(cè)設(shè)備>>其他設(shè)備>> 晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡
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更新時(shí)間：2024-11-07 11:55:20瀏覽次數(shù)：1761評(píng)價(jià)
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 | 進(jìn)料的wafer，經(jīng)過(guò)正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。 |
晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡性能描述：
標(biāo)準(zhǔn)配備1個(gè)Load port，單臂翻轉(zhuǎn)Robot，Pre-aligner，目檢臺(tái)和顯微鏡。
兼容8寸和12寸wafer。
標(biāo)準(zhǔn)load port可以對(duì)應(yīng)FOUP，AutoFOSB自動(dòng)開(kāi)蓋，具備mapping功能。
高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，低噪音，低塵，無(wú)需供油。
觸摸屏操作,界面友好。
晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡對(duì)應(yīng)GEM300，采用SEMI標(biāo)準(zhǔn)軟件。
公司為您提供全自動(dòng)晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗(yàn)機(jī)的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息，全自動(dòng)晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗(yàn)機(jī)產(chǎn)地為日本、品牌為--，型號(hào)為GBIT-WA-100，價(jià)格為面議，更多相關(guān)信息可咨詢(xún)，公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)。
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