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目錄:賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司>>電子探針顯微分析儀>> 軟X射線分析譜儀

軟X射線分析譜儀
  • 軟X射線分析譜儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市
屬性

供貨周期:兩周 應(yīng)用領(lǐng)域:化工,電子,綜合

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更新時間:2024-09-01 21:21:58瀏覽次數(shù):2725評價

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供貨周期 兩周 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,綜合
軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測,并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了WDS的能量分辨率。
  • 軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。
    和EDS一樣可以并行檢測,并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了WDS的能量分辨率。





  • 軟X射線分析譜儀系統(tǒng)簡介

  • 最新開發(fā)設(shè)計的分光系統(tǒng),不需移動衍射光柵或檢測器(CCD)就能同時獲取不同能量的譜圖。而且由于能量分辨率很高,還可以采集狀態(tài)分析分佈圖


  • p1001_sxes_cn_02-ctlg-1.jpg


  • SXES、WDS、EDS的比較

  • 各種分光方法中氮化鈦樣品的譜圖

  • 即使在WDS分析中氮化鈦的譜峰也發(fā)生重疊,需要采取去卷積的數(shù)學(xué)方法處理。如下圖所示,SXES具有很高的能量分辨率。


  • p1001_sxes_03.png


  • 比較表

  • 特征SXESEPMA(WDS)EDS
    分辨率0.3 eV
    (費(fèi)米邊處 Al-L)
    8 eV (FWHM@Fe-K)120-130 eV
    (FWHM@Mn-K)
    化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析可以可以(主要是輕元素)不可以
    并行檢測可以不可以
    (但分光譜儀臺數(shù)范圍即可)
    可以
    分光晶體和檢測器衍射光柵+CCD分光晶體+正比計數(shù)管SDD
    檢測器冷卻珀爾帖冷卻不需要珀爾帖冷卻
    檢測限(以B作為參考值)20ppm100ppm5000ppm

  • 鋰離子二次電池(LIB)分析實(shí)例

  • 能觀察到LIB的充電量


  • p1001_sxes_cn_04.png

  •  


  • 充滿電后Li-K樣品的譜圖


  • p1001_sxes_cn_05.png


  • 說明: 由于理論上的原因,氧化鋰的檢測很困難
     


  • 輕元素的測試實(shí)例

  • SXES測試碳素化合物的實(shí)例

  • 可以測試金剛石、石墨、聚合物的不同。


  • p1001_sxes_cn_06.png

  •  


  • 各種氮素化合物的測試實(shí)例

  • 氮素也可以根據(jù)波形分析化學(xué)結(jié)合狀態(tài)。 硝酸鹽和氮化物的波形不同,還能觀察到易受電子束損傷的銨鹽的波形。


  • p1001_sxes_cn_07.png


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