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目錄:賽非特科學儀器(蘇州)有限公司>>X射線熒光分析儀>> JSX-1000S日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析
  • 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析
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參考價100000-300000/套
具體成交價以合同協議為準

參考價:¥100000 ~ ¥300000

具體成交價以合同協議為準
  • 其他品牌 品牌
  • JSX-1000S 型號
  • 代理商 廠商性質
  • 蘇州市 所在地

更新時間:2024-11-27 10:37:10瀏覽次數:429評價

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供貨周期 一個月 應用領域 化工,電子,綜合
日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機,實現了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測,并且能以0.3eV(費米邊處Al-L基準)的高能量分辨率進行分析,超過了WDS的能量分辨率。

JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等。日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。


  主要特點                                                                                                                                                  

1.   操作簡便  

* 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析 只需安裝樣品,和觸摸屏幕。

*  觸摸操作還可以進行分析結果與譜圖的顯示切換,如同使用平板電腦和智能手機一般簡單(利用鍵盤、鼠標也能操作)。

*  GUI界面簡明易懂,操作直觀。


日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析



2.   高靈敏度&高通量  

JEOL 新開發(fā)的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設計的光學系統(tǒng)及可以支持整個能量范圍的濾波器使得高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度。


日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析


整個能量范圍內的高靈敏度分析

使用濾波器(最多9種*) 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內進行高靈敏度的分析。

* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項


日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析


微量元素檢測實例(10ppm以下)


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3.   提供解決方案  

解決方案應用軟件能根據預先登錄的菜譜自動執(zhí)行所希望的測試分析。只需從解決方案應用軟件的列表中選擇目標解決方案的圖標,就能輕松獲得分析結果,可為各種行業(yè)提供簡化的分析。

日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析



新開發(fā)的智能FP(基本參數法)法,不需要準備標樣,并且能自動進行殘留成分和厚度的校正, 獲得高度準確的定量結果。
(殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品)


厚度校正CrZnCdPb自動平衡
0.5mm0.0080.0370.0010.00299.76
3.8mm0.0120.1090.0040.00699.64
0.5mm0.0110.1370.0150.01099.54
3.8mm0.0110.1340.0160.01199.55
標準值0.0100.1250.0140.010
  • (mass%)

  • 主要參數


  • 檢測元素范圍Mg~U
    F~U(選配)
    X射線發(fā)生裝置5~50 kV ,  1mA
    靶材Rh
    一次濾波器 最多9種 自動交換標準:OPEN, ND, Cr, Pb, Cd
    選配:Cl, Cu, Mo, Sb
    準直器3種 自動交換0.9mm, 2mm, 9mm
    檢測器硅漂移檢測器(SDD)
    樣品室尺寸300mmφ×80mmH
    樣品室氣氛大氣 / 真空(選配)
    樣品室觀察機構彩色攝像機
    操作用電腦Windows ® 觸控屏 臺式電腦
    分析軟件(標準)定性分析(自動定性、KLM標記、和峰顯示、譜圖檢索)
    定量分析(塊狀FP法、檢量線法)
    RoHS分析解決方案(Cd, Pb,Cr, Br, Hg)
    簡易分析解決方案
    報告制作軟件
    分析軟件(選配)薄膜FP法分析軟件
    關聯濾波器FP法分析軟件
    日常檢查軟件(標準)管球升壓、能量校正、強度校正
  • Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標或商標。


  • 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析主要附件:

  • 1.  樣品室真空排氣單元

  • 2.  多樣品自動交換單元

  • 3.  濾波器組

  • 4.  濾膜FP 法分析軟件

  • 5.  薄膜FP 法分析軟件

  • 6.  和峰消除軟件

  • 7.  鎳鍍層篩選解決方案

  • 8.  錫鍍層篩選解決方案

  • 9.  氯元素篩選解決方案




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