步入式環(huán)境試驗室是一種用于模擬不同環(huán)境條件下進行產(chǎn)品測試的設(shè)備。它提供了一個大型的封閉空間，可以容納測試樣品及相關(guān)設(shè)備，并能夠控制溫度、濕度、氣壓、光照等多個環(huán)...

高頻振動疲勞測試機（High-Frequency Vibration Fatigue Testing Machine）是一種用于模擬高頻振動環(huán)境下材料或構(gòu)件進行...

高頻振動加速度測試儀（High-Frequency Vibration Accelerometer）是一種用于測量物體在高頻振動環(huán)境下的加速度的設(shè)備。它通常由加...

電磁式垂直高頻振動試驗臺（Electromagnetic Vertical High-Frequency Vibration Test System）是一種常用...

高頻振動試驗機設(shè)備是一種用于模擬高頻振動環(huán)境下的設(shè)備，常用于產(chǎn)品可靠性測試、結(jié)構(gòu)強度評估和振動疲勞壽命試驗等領(lǐng)域。該設(shè)備通常由振動臺、電機、控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集/...

鋼絲繩拉力試驗機是一種專門用于測試鋼絲繩的拉伸性能和強度的設(shè)備。鋼絲繩廣泛應(yīng)用于吊索、索道、電梯、橋梁、起重裝置等領(lǐng)域，因此對其強度和安全性能的測試非常重要。鋼...

雙柱拉力強度試驗機由兩根平行的立柱和上下移動的夾具組成。待測試的材料樣本夾在兩個夾具之間，試驗時通過電動機或手動加載器施加拉力，同時使用傳感器測量拉力和變形量等...

伺服拉力試驗機 雙柱拉伸測試機是常見的材料力學(xué)性能測試設(shè)備，用于評估材料在拉伸狀態(tài)下的性能指標。伺服拉力機是一種采用伺服電機作為動力源的試驗機。它具有較高的控制...

電腦拉力試驗機是一種用于測試物體材料的拉力強度和抗拉性能的設(shè)備。它通常由一個電動機、傳感器和控制系統(tǒng)組成。在進行試驗時，將待測試的材料樣本固定在試驗機上，然后通...

伸長率拉力試驗機（Elongation Tensile Testing Machine）是一種用于測試材料的伸長率和拉伸性能的設(shè)備。它主要用于評估材料在受拉力作...

多功能自動拉力機（Multi-function Automatic Tensile Testing Machine）是一種具備多種功能和應(yīng)用的自動化測試設(shè)備。它...

大型高低溫濕熱試驗室是一種用于模擬惡劣氣候條件下進行產(chǎn)品測試的設(shè)備。它能夠提供高溫、低溫和高濕度的環(huán)境，并可以在這些條件下對產(chǎn)品進行長時間的測試和評估。溫度范圍...

步入式恒濕老化房是一種用于模擬恒定濕度條件下進行老化測試的設(shè)備。它提供了一個封閉的空間，可以容納大量的樣品或產(chǎn)品，并在恒定的濕度環(huán)境中進行長時間的老化測試。能夠...

HAST加速抗?jié)裥詽B透老化箱運作原理主要是通過在設(shè)定的溫度和濕度條件下連續(xù)施加壓力來實現(xiàn)的。這種壓力模擬了外部環(huán)境條件，如高度和濕度，對半導(dǎo)體器件的影響。同時，...

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱主要應(yīng)用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實際使用中可能遇到的惡劣環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過這種測試方法，可以在短時間內(nèi)檢驗芯片的可靠性和...

UHAST未飽和高壓蒸汽試驗箱是一種高溫高壓蒸汽發(fā)生裝置，用于進行材料和設(shè)備的耐高溫高壓蒸汽腐蝕和性能測試。它采用*進的未飽和蒸汽發(fā)生技術(shù)，能夠在較低的溫度下產(chǎn)...

hast高加速溫濕度應(yīng)力試驗箱它能夠在短時間內(nèi)模擬出長時間的自然環(huán)境變化。這意味著您可以在更短的時間內(nèi)獲得更加準確的產(chǎn)品測試結(jié)果。使用高加速溫濕度應(yīng)力試驗箱，您...

hast溫濕度偏壓壽命試驗箱是一款多功能、高精度的測試設(shè)備，主要用于模擬產(chǎn)品在各種復(fù)雜環(huán)境下的性能表現(xiàn)。該設(shè)備能夠模擬高溫、低溫、高濕、低濕等不同環(huán)境條件，同時...

hast非飽和試驗箱運用*進的高壓加速技術(shù)，模擬產(chǎn)品在實際使用中所面臨的各種惡劣環(huán)境因素，如高溫、高濕、高壓等，從而在短時間內(nèi)揭示產(chǎn)品潛在的缺陷和問題。這款試驗...

hast高加速試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于進行電子元器件可靠性測試的設(shè)備，主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老...