hast高加速試驗(yàn)箱 返回列表頁(yè)

hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：

1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4)試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6)水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7)tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.

8)二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9)安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

10)偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

hast高加速試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于進(jìn)行電子元器件可靠性測(cè)試的設(shè)備，主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境，以評(píng)估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。

hast高加速試驗(yàn)箱通過(guò)提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應(yīng)力，加速電子元器件的老化過(guò)程。它采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品暴露在高溫高濕條件下，并施加一定的電壓或電流，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件和電氣應(yīng)力。

在HAST高加速試驗(yàn)中，樣品通常被放置在密封的試驗(yàn)室中，試驗(yàn)箱具備溫度、濕度和壓力等參數(shù)的控制功能。通過(guò)加速老化過(guò)程，可以更快地觀察到可能出現(xiàn)的故障和退化現(xiàn)象，以便制造商及早發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。

HAST高加速試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試中。通過(guò)該設(shè)備，可以評(píng)估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能和壽命特性，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和穩(wěn)定性，滿足市場(chǎng)需求和用戶期望。