高壓加速壽命試驗箱HAST 返回列表頁

hast高壓加速老化試驗箱設備特點：

1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2)獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長效實驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)400小時.

6)水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.

7)tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置.

9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）

11)USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

高壓加速壽命試驗箱HAST用途：

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。 注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應力試驗)。

高壓加速壽命試驗箱HAST試驗中，電子元器件通常被放置在密封的試驗室中，并通過電氣連接與測試設備相連。試驗箱甚至還可能具有震動功能，以模擬真實環(huán)境中的振動條件。通過高壓加速壽命試驗箱，可以評估電子元器件在潮濕環(huán)境下的可靠性和壽命特性，幫助制造商提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障和問題，從而改進產(chǎn)品設計和生產(chǎn)工藝。這樣可以減少產(chǎn)品退貨率和維修成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，滿足客戶的需求和期望。