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恒溫加熱探針臺(tái)

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更新時(shí)間:2024-06-12 10:28:25瀏覽次數(shù):564

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LVHT系列恒溫加熱探針臺(tái)是我司根據(jù)高校科研及產(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而特定設(shè)計(jì)的一款高精密控溫探針臺(tái),系統(tǒng)兼顧位移調(diào)節(jié)精度及控溫精度,實(shí)現(xiàn)測(cè)量芯片在不同溫度下的電學(xué)性能變化,廣泛應(yīng)用于光電半導(dǎo)體等相關(guān)領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

LVHT系列恒溫加熱探針臺(tái)是我司根據(jù)高??蒲屑爱a(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而特定設(shè)計(jì)的一款高精密控溫探針臺(tái),系統(tǒng)兼顧位移調(diào)節(jié)精度及控溫精度,實(shí)現(xiàn)測(cè)量芯片在不同溫度下的電學(xué)性能變化,廣泛應(yīng)用于光電半導(dǎo)體等相關(guān)領(lǐng)域。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

· 模塊化設(shè)計(jì),可以搭配不同構(gòu)件完成不同測(cè)試

· 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

· 探針臺(tái)整體位移精度高達(dá)3μm,樣品臺(tái)精密四維調(diào)節(jié)

· 兼容多種光學(xué)顯微鏡,可外引光路實(shí)現(xiàn)光電mapping測(cè)試

· PID控溫,可加熱至300℃,精度±0.1℃,均勻性±5℃

· 滿足1μm以上電極/PAD使用

· 漏電精度可達(dá)10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi))

· 探針座采用進(jìn)口交叉滾珠導(dǎo)軌,線性移動(dòng),無(wú)回程差設(shè)計(jì)

· 加寬探針?lè)胖眉埽煞胖?個(gè)DC探針座/4個(gè)RF探針座

· 顯微鏡可二維精密調(diào)節(jié),且可選配多種行程及驅(qū)動(dòng)方式

模塊介紹

恒溫加熱探針臺(tái)

通用參數(shù)

恒溫加熱探針臺(tái)

常規(guī)選型

恒溫加熱探針臺(tái)

相關(guān)配件

多種精度,多種夾具類型探針座

恒溫加熱探針臺(tái)

同軸線纜,三同軸線纜

恒溫加熱探針臺(tái)

各種類型探針

恒溫加熱探針臺(tái)

真空泵

恒溫加熱探針臺(tái)

電學(xué)測(cè)試夾具

恒溫加熱探針臺(tái)

電磁屏蔽箱

恒溫加熱探針臺(tái)


應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體材料光電檢測(cè),功率器件測(cè)試,MEMS測(cè)試,PCB測(cè)試,液晶面板測(cè)試,測(cè)量表面電阻率測(cè)試,精密儀器生產(chǎn)檢測(cè),航空航天實(shí)驗(yàn)室。

譜量光電可以根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求,定制配套恒溫加熱探針臺(tái)系統(tǒng),以達(dá)到更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比,具體信息可聯(lián)系詳詢

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