| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

行業(yè)產(chǎn)品

當(dāng)前位置:
蘇州合儀精密電子科技有限公司>>顯微系統(tǒng)方案>>清潔度檢測(cè)>> 清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100

清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100

返回列表頁(yè)
  • 清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100
收藏
舉報(bào)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品

更新時(shí)間:2024-03-28 08:46:59瀏覽次數(shù):629

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

更多產(chǎn)品

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,電子,制藥
清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程,即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速、輕松地采集清潔度數(shù)據(jù)。

詳細(xì)介紹

清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100 專為需要保持高要求清潔度標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)制造商而研發(fā)的整體解決方案

依照企業(yè)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)技術(shù)清潔度檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集、處理和存檔。

該系統(tǒng)方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程,即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速、輕松地采集清潔度數(shù)據(jù)。

奧林巴斯CIX100技術(shù)清潔度檢測(cè)系統(tǒng):讓您的技術(shù)清潔度檢測(cè)更簡(jiǎn)便

組件與零部件的清潔對(duì)于生產(chǎn)工藝十分重要。對(duì)于開(kāi)發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程,滿足對(duì)常見(jiàn)微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要**非常重要的。由于顆粒污染物對(duì)于零部件的使用壽命存在直接影響,國(guó)際和國(guó)家指令對(duì)于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質(zhì)量來(lái)描述殘留物特征。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諸如顆粒物數(shù)量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細(xì)的信息要求。 


清潔度檢測(cè)系統(tǒng) CIX100

奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)專為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。

 

  

清潔度檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)步驟:準(zhǔn)備和檢測(cè) 
(01:提取, 02:過(guò)濾, 03:稱重, 04:檢驗(yàn), 05:復(fù)審, 06:結(jié)果)


簡(jiǎn)單,可靠
· 硬件與軟件無(wú)縫集成的耐用型高效率系統(tǒng)能夠產(chǎn)出可靠、精 確的數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)真正整體解決方案功能性的簡(jiǎn)單配置
· 通過(guò)穩(wěn)定不變的系統(tǒng)配置實(shí)現(xiàn)精 確的可重復(fù)性和尚佳**性
· 光學(xué)性能和可再現(xiàn)成像條件
· 通過(guò)可再定位和集成校準(zhǔn)裝置確保成熟可靠的耐久性
· 確保高性能的全系統(tǒng)集成



實(shí)現(xiàn)很高效率的直觀引導(dǎo)


使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數(shù)據(jù)可靠性-無(wú)關(guān)操作員的經(jīng)驗(yàn)水平。


· 分布操作指導(dǎo)可提高生產(chǎn)率,縮短檢測(cè)和處理時(shí)間
· 用戶權(quán)限管理可對(duì)功能作出限制,通過(guò)限制功能避免操作員處理失誤
· 觸摸屏支持操作員高效操作處理
· 一鍵報(bào)告功能可直接進(jìn)行數(shù)據(jù)存檔
· 通過(guò)檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)存儲(chǔ)和進(jìn)行數(shù)據(jù)分享管理



快速實(shí)時(shí)分析


創(chuàng) 新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統(tǒng)調(diào)節(jié)檢偏鏡式檢測(cè)系統(tǒng)的兩倍。實(shí)時(shí)

顯示顆粒物的計(jì)數(shù)和篩選過(guò)程,并且配有便于修改檢測(cè)數(shù)據(jù)的強(qiáng)大易用型工具。


· 縮略圖像有助于評(píng)估過(guò)濾器覆蓋情況、顆粒物類型情況或者*劣顆粒物
· 自動(dòng)實(shí)時(shí)處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒
· 通過(guò)的一體式掃描技術(shù)一次掃描完成反光和非放光物體的探測(cè)提高生產(chǎn)率
· 分析和檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,實(shí)現(xiàn)很短反應(yīng)時(shí)間
· 支持兼容國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)結(jié)果



高效率的數(shù)據(jù)評(píng)估


功能強(qiáng)大且使用方便的工具支持檢測(cè)數(shù)據(jù)修改。支持所有國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)確保很高靈活性。以節(jié)

時(shí)間的方式清晰展示所有相關(guān)檢測(cè)結(jié)果。


· 圖像和數(shù)據(jù)布局清晰鮮明,提高數(shù)據(jù)審核效率
· 各種顆粒物視圖的可視化,便于快速識(shí)別
· 顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證
· 便于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核修改以及重新計(jì)算
· 通過(guò)整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實(shí)時(shí)顯示縮短反應(yīng)時(shí)間
· 通過(guò)在一個(gè)視圖內(nèi)顯示全部檢測(cè)數(shù)據(jù)集實(shí)現(xiàn)全 面控制

報(bào)告創(chuàng)建


一鍵報(bào)告功能可滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求及原則。                                                          


· 基于兼容模板實(shí)現(xiàn)全 面直觀的專業(yè)文檔
· 通過(guò)客戶可修改的模板實(shí)現(xiàn)的智能可變性
· 支持各種輸出格式,實(shí)現(xiàn)很高靈活性
· 通過(guò)直接文件分享選項(xiàng)功能進(jìn)行信息交流提高效率且節(jié)省時(shí)間
· 便于檢測(cè)結(jié)果長(zhǎng)期評(píng)判的豐富數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方案

可靠的全套系統(tǒng)解決方案:
實(shí)現(xiàn)高度可再現(xiàn)性的自動(dòng)化和精 確度
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)是專為滿足自動(dòng)化清潔度檢測(cè)需求的整體解決方案。所有部件均已針對(duì)高生產(chǎn)率系統(tǒng)數(shù)據(jù)的精 確性、可再現(xiàn)性、可重復(fù)性以及無(wú)縫集成進(jìn)行優(yōu)化。該系統(tǒng)專為獲得的光學(xué)性能、可再現(xiàn)觀察條件以及可重復(fù)性而設(shè)計(jì)。同時(shí),該清潔度檢測(cè)系統(tǒng)還可通過(guò)自動(dòng)化關(guān)鍵任務(wù)功能大大減少人為錯(cuò)誤。

1.可再現(xiàn)成像條件(相機(jī)蓋)
通過(guò)受保護(hù)的相機(jī)對(duì)齊避免意外錯(cuò)位,實(shí)現(xiàn)尚佳可再現(xiàn)性。 
2.創(chuàng) 新偏光方法(探測(cè)單元)
一次掃描即可探測(cè)反光(金屬)和非反光顆粒物。 
3.經(jīng)久耐用(載物臺(tái)/載物臺(tái)插件)
精 確可再現(xiàn)的定位以及改良的對(duì)焦驅(qū)動(dòng)功能確保實(shí)現(xiàn)可再現(xiàn)的定位。載物臺(tái)插件可確保牢固的薄膜定位,并且配有用于集成校準(zhǔn)工具的額外插件。
4.優(yōu)良的光學(xué)性能(顯微鏡)
通過(guò)奧林巴斯UIS2物鏡和高分辨率相機(jī)等上等光學(xué)組件獲得分析用上乘圖像質(zhì)量。
5.使用方便(軟件)
簡(jiǎn)單易用的軟件采用直觀分步操作的工作流,引導(dǎo)用戶完成完整的檢測(cè)流程,并可很大限度降低操作員失誤。
6.高性能(工作站)
功能強(qiáng)大的工作站配有方便高效工作的觸摸屏顯示器。


可再現(xiàn)性和可重復(fù)性

      奧林巴斯CIX100系統(tǒng)使用方便,即使不熟練的檢測(cè)人員也能夠獲得精 確可靠的數(shù)據(jù)。

      預(yù)配置的硬件和專用系統(tǒng)解決方案可幫助確保您的設(shè)置能夠正確獲得精 確、可重復(fù)的檢測(cè)結(jié)果。

該圖表通過(guò)利用過(guò)程性能指數(shù)(Ppk)驗(yàn)證測(cè)量穩(wěn)定性和可重復(fù)性展示了奧林巴斯CIX100的精密性。在5X和10X倍率下測(cè)量同一樣品數(shù)次(10次)并提取按常規(guī)尺寸分類的顆粒物計(jì)數(shù)。該圖表展示了E等級(jí)(50-100µm)的Cpk和Ppk評(píng)估。

光學(xué)品質(zhì)
                           
       奧林巴斯高品質(zhì)UIS2物鏡可確保獲得上等測(cè)量和分析精度的尚佳光學(xué)性能。針對(duì)清潔度檢測(cè)優(yōu)化的專用光源可保持均一一致的色溫。 


經(jīng)過(guò)優(yōu)化的可再現(xiàn)性

      通過(guò)消除照明光程上的運(yùn)動(dòng)部件、很大限度實(shí)現(xiàn)功能自動(dòng)化以及創(chuàng)建避免操作員失誤的直觀工作流,可再現(xiàn)性達(dá)到尚佳。

      集成式校準(zhǔn)載玻片有助于保持常規(guī)的系統(tǒng)校驗(yàn)狀況。

集成式校準(zhǔn)片有助于保持常規(guī)的系統(tǒng)校驗(yàn)狀況。


**設(shè)置

       光路調(diào)整、電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器以及相機(jī)均配有避免發(fā)生意外修改的防護(hù)蓋。

清潔度檢測(cè)硬件

顯微鏡OLYMPUS CIX100電動(dòng)對(duì)焦
  •  3軸操縱桿控制的同軸自動(dòng)細(xì)調(diào)焦

  •  對(duì)焦行程 25毫米

  •  微調(diào)行程 100微米/周

  •  載物臺(tái)托架*大高度:40毫米

  •  對(duì)焦速度 200微米/秒

  •  可啟用軟件自動(dòng)對(duì)焦

  •  可定制多點(diǎn)聚焦圖

照明器
  • 內(nèi)置LED照明

  • 可同時(shí)實(shí)現(xiàn)反光和非反光顆粒物探測(cè)的照明機(jī)制

  • 光強(qiáng)度由工廠預(yù)設(shè)

成像設(shè)備
  • 彩色CMOS USB 3.0相機(jī)

樣品高度
  • ?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過(guò)濾膜(直徑47毫米)

物鏡轉(zhuǎn)換器電動(dòng)型電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器
  • 6孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器,已經(jīng)安裝3個(gè)UIS2物鏡

  • PLAPON 1.25X,用于預(yù)覽

  • MPLFLN 5X,用于觀察大于10微米的顆粒物

  • MPLFLN 10X,用于觀察大于2.5微米的顆粒物

     選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測(cè)量。

軟件控制
  • 圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關(guān)系均可隨時(shí)掌握。

載物臺(tái)電動(dòng)載物臺(tái)X,Y電動(dòng)載物臺(tái)X,Y
  • 步進(jìn)電機(jī)控制運(yùn)動(dòng)

  • *大范圍:130 x 79毫米

  • *大速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距)

  • 可重復(fù)性 < 1微米

  • 分辨率 0.01微米

  • 使用3軸操縱桿控制

軟件控制
  • 掃描速度與所使用的倍率有關(guān),10X時(shí)保證掃描速度少于10分鐘

  • 載物臺(tái)對(duì)齊由工廠在裝配時(shí)完成

樣品托架樣品托架
  • 樣品托架專為在安裝過(guò)程中避免發(fā)生意外碰撞轉(zhuǎn)動(dòng)而特別設(shè)計(jì)

  • 過(guò)濾膜通過(guò)樣品托架進(jìn)行機(jī)械式展平

  • 固定上蓋時(shí)無(wú)需使用工具

  • 樣品托架始終使用載物臺(tái)上的插槽1

顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)
  • 用于驗(yàn)證系統(tǒng)測(cè)量的參考樣品

  • 在檢驗(yàn)系統(tǒng)控制CIX相應(yīng)功能的內(nèi)置功能中使用的樣品

  • 顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)始終使用載物臺(tái)上的插槽2

載物臺(tái)插件2個(gè)載物臺(tái)插槽
  • 載物臺(tái)插槽專門用于樣品托架和顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)的正確定位

控制器工作站高性能預(yù)安裝式工作站
  • HP Z440, Windows 10-64位專業(yè)版(英文版)

  • 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間

  • 2GB視頻適配器

  • 安裝Microsoft Office 2016 (英文版)

  • 具備聯(lián)網(wǎng)功能,英文全鍵盤,1000 dpi光學(xué)鼠標(biāo)

擴(kuò)展插件
  • 電動(dòng)控制器, RS232 串口和USB 3.0

語(yǔ)言選擇
  • 操作系統(tǒng)和Microsoft Office默認(rèn)語(yǔ)言可由用戶更改

觸摸屏23寸觸摸屏
  • 專為CIX軟件優(yōu)化的1920x1080分辨率

功耗額定值
  • AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個(gè)插頭)

功耗
  • 控制器:700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦

  • 合計(jì):769.2瓦

圖紙尺寸 (長(zhǎng) x 寬 x 高)約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米
重量44公斤

系統(tǒng)環(huán)境要求

常規(guī)使用溫度10 - 35 °C
濕度30 - 80 %
用于**環(huán)境室內(nèi)使用
溫度5 - 35 °C
濕度
  • *大80%(可達(dá)31 °C)(無(wú)冷凝)

  • 溫度高于31 °C時(shí)可工作的濕度值呈線性下降。

  • 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) 

海拔高度*高2000米
水平度*大± 2°
電源及電壓穩(wěn)定性±10 %
污染等級(jí) 2
總電壓II

軟件

軟件CIX-ASW-V1.1
技術(shù)清潔度檢測(cè)的專用工作流軟件
語(yǔ)言GUI :英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ)
在線幫助:英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ)
許可證管理軟件許可證通過(guò)許可證卡激活(安裝時(shí)已經(jīng)激活)
用戶管理系統(tǒng)可連接到網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行域管理
實(shí)時(shí)圖像以彩色模式顯示
窗口適應(yīng)方法
實(shí)時(shí)探測(cè) 
- 為提高速度,顆粒物在被捕捉到時(shí)即進(jìn)行檢測(cè)。 
- 如果測(cè)量結(jié)果不佳,用戶可停止該進(jìn)程。
硬件控制XY電動(dòng)載物臺(tái) 
- 操縱桿操作及軟件控制 
- 所選顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)再定位
電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器:僅可使用軟件選擇
電動(dòng)對(duì)焦 
- 操縱桿控制。 
- 軟件自動(dòng)對(duì)焦可用。  
- 使用多點(diǎn)對(duì)焦圖進(jìn)行預(yù)測(cè)性自動(dòng)對(duì)焦。
光線控制:光強(qiáng)度由軟件進(jìn)行自動(dòng)控制
檢查系統(tǒng)系統(tǒng)驗(yàn)證 
- 系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量PSD參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證。 
- 生成OK或NOK的質(zhì)量判定值
技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn)可支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E
全 面符合VDA19:2016推薦要求
顆粒物識(shí)別:顆粒物可通過(guò)顆粒物類型進(jìn)行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他)
定制標(biāo)準(zhǔn):用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)可輕松確定
檢測(cè)配置:系統(tǒng)允許加載、定義、復(fù)制、重命名、刪除和保存檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
顆粒物平鋪視圖以平鋪視圖顯示檢測(cè)到的顆粒物,提升導(dǎo)航效果
存儲(chǔ)完整薄膜完整濾膜圖片可被存儲(chǔ),并可使用不同條件進(jìn)行重新處理
顆粒物編輯在修改過(guò)程中可對(duì)顆粒物進(jìn)行編輯功能包括:  
- 刪除、合并、添加顆粒物。  
- 修改顆粒物類型。
動(dòng)態(tài)報(bào)告使用Microsoft Word 2016模板可生成全 面可定制的專業(yè)分析報(bào)告

選配解決方案CIX-S-HM

高度測(cè)量選定顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)高度測(cè)量- 選配軟件解決方案可對(duì)所選顆粒物從上到下進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦。顆粒物高度由此通過(guò)Z坐標(biāo)*大和*小差獲得。 
- 包含一個(gè)附加物鏡(20X MPLFLN)和安裝時(shí)激活使用的許可證卡。

環(huán)境法規(guī)

歐洲低壓指令 2014/35/EU
EMC指令 2014/30/EU
RoHS指令 2011/65/EU
REACH法規(guī),編號(hào)1907/2006
包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC
WEEE指令 2012/19/EU
機(jī)械指令2006/42/EC
美國(guó)UL 61010-1:2010第3版
FCC 47 CFR第15部分 B子部分
加拿大CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)
澳大利亞1992無(wú)線電通信法案,1997電信法案
節(jié)能條例 AS/NZS 4665-2005
日本電氣設(shè)備及材料**法 (PSE)
韓國(guó)電氣設(shè)備**控制法案
節(jié)能標(biāo)簽及標(biāo)準(zhǔn)條例
EMC和無(wú)線電通信條例(公告2913-5)
中國(guó)中國(guó)RoHS
中國(guó)PL法
手冊(cè)條例


收藏該商鋪

請(qǐng) 登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
二維碼 意見(jiàn)反饋
在線留言