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賽默飛電子顯微鏡

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賽默飛透射電鏡助力超導(dǎo)理論研究

閱讀:204      發(fā)布時(shí)間:2023-3-16
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2023年2月22日,清華大學(xué)朱靜院士團(tuán)隊(duì)聯(lián)合復(fù)旦大學(xué)車仁超教授和北京大學(xué)李源副教授在《自然》雜志上發(fā)表了題為” Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor” [1] 的文章。該研究工作采用賽默飛透射電子顯微鏡(TEM)在贗能隙態(tài)YBa2Cu3O6.5材料中發(fā)現(xiàn)了拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)的存在。該拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)的發(fā)現(xiàn)在實(shí)空間微觀尺度上給贗能隙態(tài)下的時(shí)間反演對稱性破缺提供了的直接圖像證據(jù),并且發(fā)現(xiàn)該拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)在電荷密度波態(tài)時(shí)被破壞,進(jìn)入到超導(dǎo)態(tài)時(shí)又重新出現(xiàn),這一發(fā)現(xiàn)對揭示高溫超導(dǎo)的微觀機(jī)理具有重大的意義,而先進(jìn)的透射電子顯微鏡在這一發(fā)現(xiàn)上更是功不可沒。朱靜院士,車仁超教授等人深耕于超導(dǎo)材料研究領(lǐng)域,洛倫茲低溫原位透射電鏡研究領(lǐng)域,電子顯微學(xué)研究領(lǐng)域多年,取得了一系列重要研究成果。在本研究中,研究團(tuán)隊(duì)利用復(fù)旦大學(xué)電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室新安裝的Spectra 300透射電子顯微鏡開展低溫洛倫茲樣品測試,獲得了此次重大發(fā)現(xiàn)。

2021年,賽默飛上海納米港(Shanghai NanoPort, Thermo Fisher Scientific)有幸參與其中部分實(shí)驗(yàn)工作,在創(chuàng)建冷凍實(shí)驗(yàn)環(huán)境和原位數(shù)據(jù)采集方面積極地配合支持。本文將主要介紹兩種電子顯微學(xué)技術(shù)——洛倫茲透射電鏡(LTEM)和積分差分相位襯度(iDPC)在該工作中起到的關(guān)鍵作用。

 

 

洛倫茲透射電鏡(LTEM)


正常TEM光路下,物鏡處于開啟狀態(tài),樣品在物鏡上下極靴中間處于~2T的強(qiáng)磁場中,樣品本征的磁結(jié)構(gòu)會(huì)被物鏡的強(qiáng)磁場破壞。為了在無磁環(huán)境下觀察樣品本征的磁結(jié)構(gòu),賽默飛場發(fā)射透射電鏡Talos和球差校正透射電鏡Spectra都可以通過關(guān)閉物鏡電流使樣品處于零磁場環(huán)境,再由位于物鏡下極靴內(nèi)部的洛倫茲磁透鏡實(shí)現(xiàn)對樣品微觀本征磁結(jié)構(gòu)的觀察。LTEM成像模式主要有兩種:Fresnel成像模式Foucault成像模式。Fresnel成像模式是通過改變圖像的離焦量實(shí)現(xiàn)對磁疇或疇壁的觀察。其圖像主要特點(diǎn)是欠焦和過焦條件下磁疇疇壁的襯度是相反的,而正焦圖像則沒有磁襯度。Foucault成像是通過遮擋或者保留后焦面上與磁疇相關(guān)的衍射信號來實(shí)現(xiàn)(類似于暗場像), 適用于觀測不同磁化取向的磁疇。圖1a-c分別為該文章中贗能隙態(tài)YBa2Cu3O6.5樣品的正焦、過焦以及欠焦下的Fresnel圖像,離焦量為±1.08 mm。其反轉(zhuǎn)的襯度特點(diǎn),切實(shí)證明了該樣品中存在拓?fù)鋵W(xué)特征的疇結(jié)構(gòu)。此外,賽默飛透射電鏡上的洛倫茲功能不僅可以實(shí)現(xiàn)無磁環(huán)境,還可以很方便地通過改變物鏡電流來改變磁場,用于原位研究磁結(jié)構(gòu)隨磁場強(qiáng)度的變化。在本研究中,作者通過改變物鏡電流對樣品施加外磁場影響,拓?fù)鋵W(xué)特征消失,進(jìn)一步證明了該效應(yīng)是由磁學(xué)特性引起的。作者通過使用強(qiáng)度傳遞方程(Transport of Intensity Equation, TIE)的相位重構(gòu)技術(shù)[2],對LTEM圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)的磁場方向和相對強(qiáng)度分布(圖1d-e, i-l)。圖1m-n是由LTEM結(jié)果推測出來的兩種可能的磁渦旋結(jié)構(gòu)示意圖。該文章中LTEM實(shí)驗(yàn)分別在賽默飛Spectra300,Themis和Titan機(jī)臺(tái)進(jìn)行了重復(fù)驗(yàn)證,均觀察到拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)。

 

圖片

圖1 (a-c)LTEM Fresnel模式下贗能隙態(tài)YBa2Cu3O6.5樣品的正焦、過焦、欠焦圖像(離焦量為±1.08 mm),樣品處于300 K,零磁場環(huán)境,標(biāo)尺為500 nm;(d-e)為通過TIE算法得到的磁場和磁場強(qiáng)度圖像;(f-j)為紅色方框?qū)?yīng)的剪裁放大圖像;(k-l)為單個(gè)磁渦旋結(jié)構(gòu)的磁場和磁場強(qiáng)度圖;(m-n)為兩種可能的拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)示意圖[1]

除了常規(guī)的LTEM成像外,賽默飛球差校正透射電鏡Spectra系列可以通過物鏡球差校正器對LTEM光軸進(jìn)行像差校正。像差校正洛倫茲模式下可以得到優(yōu)于1nm的信息分辨率,從而幫助科研工作者觀察到更小的磁結(jié)構(gòu)。

 

積分差分相位襯度(iDPC)

球差校正透射電鏡的超高空間分辨率提供了關(guān)于拓?fù)渥孕Y(jié)構(gòu)的出現(xiàn)與局域晶體結(jié)構(gòu)之間關(guān)系的更多信息。銅基超導(dǎo)材料中氧原子的摻雜或缺失對材料性能具有重要的影響,直接觀察到氧原子的占位對深入揭示材料微觀結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)系具有重大的意義。然而,廣泛使用的掃描透射電鏡(STEM)的高角環(huán)形暗場(HAADF)圖像,因其主要接收高角盧瑟福散射信號,導(dǎo)致輕重元素?zé)o法同時(shí)成像,C、N、O等輕原子無法觀察到。STEM環(huán)形明場(ABF)像雖然能觀察到輕元素,但ABF圖像無法直接解讀,而且存在對樣品厚度要求高、圖像信噪比不佳等問題。為了解決以上問題,賽默飛提出并發(fā)展了積分差分相位襯度(iDPC)技術(shù)。iDPC這一全新STEM成像模式的出現(xiàn),大大提高了透射電子顯微鏡捕獲原子的能力。iDPC技術(shù)具有能實(shí)現(xiàn)輕重原子同時(shí)成像,能實(shí)現(xiàn)低電子劑量,高分辨和高信噪比成像,圖像襯度易解讀等優(yōu)點(diǎn)[3]。目前,iDPC技術(shù)已成為材料表征領(lǐng)域技術(shù)熱點(diǎn),在表征輕元素占位、二維材料、電子束敏感材料、超導(dǎo)體等領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用。iDPC成像技術(shù)現(xiàn)已完全集成在賽默飛球差校正電鏡Spectra和場發(fā)射電鏡Talos上,能實(shí)現(xiàn)iDPC圖像的在線采集和顯示。

 

圖片

圖2 (a) YBa2Cu3O6.0,(b)YBa2Cu3O6.5和(c) YBa2Cu3O6.9的原子分辨率iDPC圖像[1]

圖2為YBa2Cu3O6.0、YBa2Cu3O6.5和YBa2Cu3O6.9的高分辨iDPC圖像,可以清楚的觀察到氧原子的位置,隨著氧摻雜含量的不同,Cu-O鏈上的氧占位逐漸增加。值得注意的是贗能隙態(tài)YBa2Cu3O6.5的Cu-O鏈上出現(xiàn)了氧富集和氧缺失的有序排列。作者認(rèn)為這種氧的有序排列有利于拓?fù)浯艤u旋結(jié)構(gòu)沿c軸自由排列,是觀察磁渦旋結(jié)構(gòu)的最佳區(qū)域。作者認(rèn)為現(xiàn)階段不能完全排除氧填充鏈激發(fā)磁性的可能。

 

 

賽默飛將致力于相關(guān)電子顯微學(xué)技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為材料的電、磁學(xué)性能研究提供更強(qiáng)大的助力。

 

[1] Zechao Wang, Ke Pei, Liting Yang, Chendi Yang, Guanyu Chen, Xuebing Zhao, Chao Wang, Zhengwang Liu, Yuan Li, Renchao Che & Jing Zhu. Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor. Nature (2023). https://doi.org/10.1038/s41586-023-05731-3

[2] M. Beleggia, M.A. Schofield, V.V. Volkov, Y. Zhu. On the transport of intensity technique for phase retrieval. Ultramicroscopy 102 (2004) 37–49.

[3] Ivan Lazi?, Eric G.T. Bosch and Sorin Lazar. Phase contrast STEM for thin samples: Integrated differential phase contrast. Ultramicroscopy 160, 265-280 (2016).

 

賽默飛上海納米港將在6月份舉辦透射電鏡高階培訓(xùn)班,詳細(xì)講解上述技術(shù)。掃描海報(bào)二維碼了解詳情。



 

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