首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會(huì)
研究先進(jìn)材料需要對樣品的表面、結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分有深刻的理解。無論您是在研究下一項(xiàng)創(chuàng)新，還是專注于產(chǎn)品開發(fā)和制造，了解樣品材料屬性都可以幫助您分析源材料的來源和純度，評估缺陷，并確保成品的質(zhì)量。
Thermo Scientific™ Apreo™ ChemiSEM™ 系統(tǒng)革新并簡化了這些分析。通過將高分辨率成像、元素分析和結(jié)構(gòu)分析的硬件和軟件集成，它提供了一個(gè)流暢直觀的工作流程，適用高通量的實(shí)驗(yàn)室，并為各種樣品提供高性能分析。
特邀專家
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2024年8月28日14:00-16:00
| 時(shí)間 | 主題 | 演講嘉賓 |
|---|---|---|
| 14:00-14:05 | Apreo ChemiSEM產(chǎn)品視頻 | / |
| 14:05-14:10 | 開場致辭 | 賽默飛高級商務(wù)總監(jiān)陳廳行；賽默飛高級產(chǎn)品市場總監(jiān)Kevin Fairfax；中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所曾毅 |
| 14:10-14:40 | 掃描電鏡和EBSD的應(yīng)用 | 中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所曾毅 |
| 14:40-15:10 | 掃描電鏡低電壓成像技術(shù)：回顧與討論 | 華南理工大學(xué)孫千 |
| 15:10-15:30 | Apreo ChemiSEM實(shí)機(jī)演示 | 賽默飛上海納米港 |
| 15:30-15:50 | Apreo ChemiSEM產(chǎn)品介紹 | 賽默飛業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理王慧敏 |
| 15:50-16:00 | 有獎(jiǎng)問答 | / |
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