泰克 2601B-PULSE 10µs 脈沖發(fā)生器/SMU儀器 返回列表頁

2601B-PULSE 系統(tǒng)數(shù)字源表  10ms 脈沖發(fā)生器 / 源測量單元產(chǎn)品特點(diǎn)

● 行業(yè)*先 10A@ 10V, 10 微秒脈沖輸出

● 不需要調(diào)節(jié) ; 適用于 3μH 電感負(fù)載

● 用于高速 I/V 脈沖測量的雙 1Ms /s 數(shù)字化器 ( 限脈沖功能 )

● 直流能力可達(dá) ±40 V @±1.0 A, 40W

● TSP 技術(shù)將完整的測試程序嵌入到儀器中，以獲得yi流的系統(tǒng)級吞吐量

● TSP-Link 擴(kuò)展技術(shù)，用于無需主機(jī)的多通道并行測試

● USB 2.0, LXI 核心，GPIB, RS-232，數(shù)字 I/O 接口

● 支持在 Keithley KickStart 非編程軟件工具運(yùn)行

2601B-PULSE 10µs 脈沖發(fā)生器/SMU儀器產(chǎn)品介紹

全新 2601B-PULSE 系統(tǒng)數(shù)字源表 10µs 脈沖發(fā)生器 /SMU 采用的 PulseMeterTM 技術(shù)是集合了行業(yè)*先的高電流 / 高速脈沖發(fā)生器和傳統(tǒng)的 SMU 的全部功能。這個(gè)新的脈沖發(fā)生器能在 10V 電壓量程提供脈沖寬度最小為 10uS 的 10A 脈沖電流輸出 , *美適用于垂直腔表面發(fā)射激光器 (VCSEL) 激光雷達(dá)和面部識別 , LED照明和顯示 , 半導(dǎo)體器件特性 , 過載保護(hù)測試等等。該脈沖發(fā)生器內(nèi)置的雙 1MS/s 采樣的 18 位數(shù)字化器，使它可以同時(shí)獲得高速脈沖電流和電壓波形，而不需要額外使用單獨(dú)的儀器。2601B-PULSE 是一個(gè)強(qiáng)大的解決方案，可以顯著提高生產(chǎn)力。應(yīng)用范圍從臺式表測試到高度自動化的脈沖 I-V 生產(chǎn)測試。對于自動化系統(tǒng)應(yīng)用程序，2601B-PULSE 的測試腳本處理器 (TSP®)從儀器內(nèi)部運(yùn)行完整的測試程序，以獲得行業(yè)最佳的吞吐量。在更多通道的應(yīng)用中，Keithley TSP - link® 技術(shù)與 TSP 技術(shù)一起工作，以支持高速、脈沖器 /SMU每個(gè) pin 腳的并行測試。因?yàn)?2601B-PULSE 提供了wan全獨(dú)立不局限于其他主機(jī)，它可以隨著測試應(yīng)用程序的需求而輕松地重新配置和重新部署。

無需手動脈沖調(diào)整即可實(shí)現(xiàn)高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統(tǒng)，高達(dá) 3μH 的負(fù)載變化無需手動調(diào)整，從而確保在任何電流水平（最高 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時(shí)，脈沖均不會出現(xiàn)過沖和振蕩。脈沖上升時(shí)間 < 1.7 μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。

• 輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs

• 脈沖上升時(shí)間<1.7μs，可輕松檢定

• 高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調(diào)整

將快速脈沖發(fā)生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業(yè)界*先的吉時(shí)利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準(zhǔn)確性基礎(chǔ)上新增脈沖發(fā)生器功能。

• 通過 1 MS/s 的數(shù)字化功能，實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)生器 0.05% 的基本測量精度

• SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

• 后面板 BNC 連接實(shí)現(xiàn)電纜快速設(shè)置

嵌入式腳本和連接提供wu與倫比的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界最佳性能。TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 32 個(gè) TSP 鏈路節(jié)點(diǎn)，以創(chuàng)建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機(jī)）。

• 消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信

• 高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

• 連接多達(dá) 32 個(gè) TSP 鏈路節(jié)點(diǎn)

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

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