日本日立手持式X射線熒光光譜儀 返回列表頁(yè)

手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡(jiǎn)單，可為您提供可靠的結(jié)果。

我們提供多種型號(hào)的產(chǎn)品，符合您不同應(yīng)用的所有分析需要和預(yù)算。

為什么選擇 X-MET 光譜儀

卓Yue性能

X-MET提供Ji好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測(cè)限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。通過(guò)靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測(cè)試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。

操作簡(jiǎn)單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開(kāi)始操作。

符合人體工學(xué)

X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡(jiǎn)潔、平衡性好，可供長(zhǎng)時(shí)間使用，而疲勞度非常低。

堅(jiān)固耐用而擁有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過(guò)MIL-STD-810G軍Yong耐用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。

高級(jí)數(shù)據(jù)管理

完Quan靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。

應(yīng) 用

比較型號(hào)

X射線管：40kV

濾光片：?jiǎn)我?/p>

檢測(cè)器：大面積 SDD

最高樣本溫度：400oC

符合 IP54 等級(jí)

Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞

校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)

內(nèi)置攝像頭 （可選）

X射線管：40kV or 50kV

濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測(cè)器：大面積 SDD

最高樣本溫度：100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級(jí)

可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）

內(nèi)置攝像頭（可選）

小光班準(zhǔn)直器（可選）

針對(duì)所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片

X射線管：50kV

濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測(cè)器：大面積 SDD

最高樣本溫度：100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級(jí)

可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn)方法：自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）

內(nèi)置攝像頭

小光班準(zhǔn)直器 （可選) 

針對(duì)所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片