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X-MET8000-日本日立手持式X射線熒光光譜儀
  • X-MET8000-日本日立手持式X射線熒光光譜儀
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貨物所在地:上海上海市

地: 上海

更新時間:2024-12-11 17:58:58

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X-MET8000系列手持式X光熒光分析儀提供快速精準的合金等級鑒定及多種材料化學(xué)結(jié)構(gòu)分析,適用于廢金屬回收、材料可靠性鑒定、制造業(yè)質(zhì)量控制、貴金屬檢測、環(huán)境土壤篩查、礦石和礦物分析以及金屬鍍層厚度測量等領(lǐng)域。該設(shè)備具有出色的輕元素分析能力,易于操作,堅固耐用,并具備高級數(shù)據(jù)管理功能。

手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果。

我們提供多種型號的產(chǎn)品,符合您不同應(yīng)用的所有分析需要和預(yù)算。

為什么選擇 X-MET 光譜儀


卓Yue性能

X-MET提供Ji好的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結(jié)果。通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準確,則使用實證校準。


操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。


符合人體工學(xué)

X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度非常低。


堅固耐用而擁有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過MIL-STD-810G軍Yong耐用標準測試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。


高級數(shù)據(jù)管理

完Quan靈活:可將多達100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。


應(yīng) 用


日本日立手持式X射線熒光光譜儀

比較型號

日本日立手持式X射線熒光光譜儀

X射線管:40kV

濾光片:單一

檢測器:大面積 SDD

最高樣本溫度:400oC

符合 IP54 等級

Thick Kapton®窗口:保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞

校準:基本參數(shù)法(FP)

內(nèi)置攝像頭 (可選)

日本日立手持式X射線熒光光譜儀

X射線管:40kV or 50kV

濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測器:大面積 SDD

最高樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護

校準:基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)

內(nèi)置攝像頭(可選)

小光班準直器(可選)

針對所有元素(從鎂到鈾)進行優(yōu)先分析的六位濾光片

日本日立手持式X射線熒光光譜儀

X射線管:50kV

濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測器:大面積 SDD

最高樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護

校準方法:自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法(可進行追溯)

內(nèi)置攝像頭

小光班準直器 (可選)

針對所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片




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