NANOTRAC WAVE II Zeta電位及納米粒度分析儀采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速。

無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

Zeta電位及納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

測量原理：動(dòng)態(tài)光散射法

Zeta電位測量：膜電極設(shè)計(jì)與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

測量范圍：0.3 nm - 10 µm

檢測角度：180°

重復(fù)性：±1%

Zeta電位范圍：-200mV~+200mV

Zeta粒徑范圍：10nm~20μm

電泳遷移范圍：0 - 15 (µm/s) / (V/cm)

電導(dǎo)率范圍：0 - 10 mS / cm

分子量范圍：<300 da="" -="">20 x 106 Da

控溫范圍：+4°C ~ +90°C

溫度精度：±0.1℃

Zeta測量重復(fù)性：±3%

Nanotrac Flex：180°動(dòng)態(tài)光背散射

Nanotrac Wave II：動(dòng)態(tài)光背散射

粒徑與粒形分析方法